Der neuartige Picoindenter aus der PTB, der die Spitze eines Rasterkraftmikroskops (AFM) als Eindringkörper verwendet um Nanomaterialien dimensionell und mecha¬nisch zu charakterisieren, wurde jetzt entscheidend erweitert: Im „Laboratory for Emerging Nanometrology“ (LENA) der TU-BS wurden mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB) pyramiden¬förmige Berkovich-Spitzen auf AFM-Cantilevern hergestellt, die auch im Picoindenter zum Einsatz kommen können. Im Vergleich zu den herkömm¬lichen, konisch geformten AFM-Spitzen, sind solche Eindringkörper mechanisch stabiler und ermöglichen schnelle dynamische Messungen sowie aufgrund ihrer hohen Leitfähigkeit erstmals auch elektrische Messungen.
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