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81. Quantum Light Sources based on deterministically fabricated Quantum Dot - Microlenses  
Datum: 23.05.2017
Prozentuale Relevanz: 27 %
Kolloquium der Abteilung 7 The emerging field of photonic quantum technologies relies crucially on the availability of practical quantum light sources. Prime candidates to realize such sources are  
82. Recent advancements in magnetic nanoparticle imaging using Magnetorelaxometry and particle Electron Paramagnetic Resonance  
Datum: 30.07.2015
Prozentuale Relevanz: 34 %
Kolloquium der Abteilung 8 In this presentation I will talk about two promising techniques for visualizing the magnetic nanoparticle (MNP) distribution, namely Magnetorelaxometry (MRX) and particle  
83. Roesslein Matthias MATHMET2014  
Datum: 23.01.2014
Prozentuale Relevanz: 12 %
Roesslein Matthias  
84. Seminar Abteilung 2 - Titel - Next-generation graphene quantized Hall resistance standards: Charge carrier density control, contact design, and crossover-free interconnections  
Datum: 22.10.2019
Prozentuale Relevanz: 20 %
Abstract: Major challenges in establishing next-generation graphene quantized Hall resistance standards concern the sample design and the charge carrier density control. Today’s talk will focus on  
85. Sensitive diagnostics for reaction kinetics  
Datum: 28.05.2015
Prozentuale Relevanz: 12 %
Increasingly stringent emission regulations, global warming, and depleting fossil fuelresources are driving the design of combustion systems towards extreme operatingconditions. Ultra-lean fuel  
86. Shearlets: Theory and Applications to Imaging Science and Inverse Scattering Problems  
Datum: 05.01.2016
Prozentuale Relevanz: 21 %
Kolloquium der Abteilung 8 Many important problem classes are governed by anisotropic features such as edges in images or inhomogeneities of a medium. Among various representation systems, which are  
87. Draft Chapter 2 for SI Brochure, following redefinitions of the base units.  
Datum: 15.04.2015
Prozentuale Relevanz: 2 %
This is a draft specification for the SI, prepared by the CCU, which would follow from the proposed redefinition of the kilogram, ampere, kelvin and mole to fix the values of the Planck constant h,  
88. Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer  
Datum: 02.05.2018
Prozentuale Relevanz: 5 %
Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer Polarization resolved measurements with the new EUV Ellipsometer of PTB Victor Soltwischa, Andreas Fischera, Christian Laubisa, Christian Stadelhoffa, Frank  
89. Spectroscopic Ellipsometry: Principle, Instrumentation, and Applications for Nanometrology  
Datum: 17.05.2016
Prozentuale Relevanz: 16 %
Kolloquium der Abteilung 4 Ellipsometry is an optical metrology technique that utilizes polarized light to characterize thickness of thin films and optical constants of both layered and bulk  
90. Stand-alone EUV spectrometer for the characterization of ultrathin films and nanoscale gratings  
Datum: 06.11.2020
Prozentuale Relevanz: 20 %
Kolloquium der Abteilung 7 Abstract: In this talk the implementation, measurement procedure and the data analysis of a stand-alone EUV spectrometer is presented. The setup is used to determine  
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