References
default
J. van Schieveen, R. Yang, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 113-116.
2009
default
X. Guo and S. Nihtianov
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 109-112.
2009
default
P. Křen
Int. J. Nanotechnol. 4, 702-711
ISSN: 7141-8151
(2007)
default
K. R. Koops, M. G. A. van Veghel, G. J. W. L. Kotte and M. C. Moolman
Meas. Sci. Technol. 18, 390 (2007)
default
G. Cavagnero, G. Mana and E. Massa
J. Opt. Soc. Am. A 23 (8), 1951-1959 (2006)
default
G. Cavagnero, G. Mana and E. Massa
Rev. Sci. Instrum. 76, 053106 (6pp) (2005)
default
A. Yacoot and L. Koenders
Meas. Sci. Technol. 14, N59-N63 (2003)
default
A. Yacoot and N. Cross
Meas. Sci. Technol. 14, 148-152 (2003)
default
G. N. Peggs and A. Yacoot
Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 360, 953-968 (2002)
default
A. Yacoot, U. Kuetgens, L. Koenders and T. Weimann
Meas. Sci. Technol. 12, 1660-1665 (2001)
default
R. Bergmans, H. Haitjema, S. Wetzels and P. Schellekens
Proc. SPIE 4401, 217-226 (2001)
default
G. Basile, P. Becker, A. Bergamin, G. Cavagnero, A. Franks, K. Jackson, U. Kuetgens, G. Mana, E. W. Palmer, C. J. Robbie, M. Stedman, J. Stümpel, A. Yacoot and G. Zosi
Proc. Roy. Soc. Lond. A 456, 701-729 (2000)
Page:  
Previous | 1, 2, 3, 4, 5 | Next
Export as:
BibTeX, XML