References
default
B. Andreas, G. Mana and C. Palmisano
J. Opt. Soc. Am. A 32 (8), 1403-1424 (2015)
default
C. Falldorf and R. B. Bergmann
Opt. Eng. 54 (5), 054105 (2015)
default
C. Falldorf, M. Agour and R. B. Bergmann
Opt. Eng. 54 (2), 024110 (2015)
default
D. Voigt and A. S. van de Nes
SPIE Proceedings 9203, 920308 (2014)
default
R. Nojdelov and S. Nihtianov
Key Engineering Materials 613, 51-57 (2014)
default
B. Andreas, G. Mana, E. Massa and C. Palmisano
SPIE Proceedings 8789, 87890W (2013)
pdf
D. Voigt and R. Bergmans
ISCO2012 Proceedings (123) (2012)
default
B. Andreas, K. Fujii, N. Kuramoto and G. Mana
Metrologia 49, 479-486 (2012)
default
C. Weichert, P. Köchert, R. Köning, J. Flügge, B. Andreas, U. Kuetgens and A. Yacoot
Meas. Sci. Technol. 23, 094005 (7pp) (2012)
default
M. Pisani, A. Yacoot, P. Balling, N. Bancone, C. Birlikseven, M. Celik, J. Flügge, R. Hamid, P. Köchert, P. Křen, U. Kuetgens, A. Lassila, G. B. Picotto, E. Sahin, J. Seppä, M. Tedaldi and C. Weichert
Metrologia 49, 455-467 (2012)
default
A. Yacoot and U. Kuetgens
Meas. Sci. Technol. 23, 074003 (7pp) (2012)
default
M. Celik, R. Hamid, U. Kuetgens and A. Yacoot
Meas. Sci. Technol. 23, 085901 (6pp) (2012)
default
B. Andreas, Y. Azuma, G. Bartl, P. Becker, H. Bettin, M. Borys, I. Busch, M. Gray, P. Fuchs, K. Fujii, H. Fujimoto, E. Kessler, M. Krumrey, U. Kuetgens, N. Kuramoto, G. Mana, P. Manson, E. Massa, S. Mizushima, A. Nicolaus, A. Picard, A. Pramann, O. Rienitz, D. Schiel, S. Valkiers and A. Waseda
Phys. Rev. Lett. 106 (030801) (2011)
default
B. Andreas, Y. Azuma, G. Bartl, P. Becker, H. Bettin, M. Borys, I. Busch, P. Fuchs, K. Fujii, H. Fujimoto, E. Kessler, M. Krumrey, U. Kuetgens, N. Kuramoto, G. Mana, E. Massa, S. Mizushima, A. Nicolaus, A. Picard, A. Pramann, O. Rienitz, D. Schiel, S. Valkiers, A. Waseda and S. Zakel
Metrologia 48, S1-S13 (2011)
default
B. Andreas, L. Ferroglio, K. Fujii, N. Kuramoto and G. Mana
Metrologia 48, S104-S111 (2011)
default
A. Wiegmann, M. Stavridis, M. Walzel, F. Siewert, T. Zeschke, M. Schulz and C. Elster
Precision Engineering 35 (2), 183-190 (2011)
default
J. Seppä, V. Korpelainen, M. Merimaa, G. B. Picotto and A. Lassila
Meas. Sci. Technol. 22, 094027 (2011)
default
J. van Schieveen, R. Yang, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc. Of IEEE ICM’11
2011
default
A. Wiegmann, M. Schulz and C. Elster
Opt. Express 18, 15807-15819 (2010)
default
V. Korpelainen, J. Seppä and A. Lassila
Precision Engineering 34 (2), 735-744 (2010)
default
D. Voigt, J. D. Ellis, A. L. Verlaan, R. H. Bergmans, J. W. Spronck and R. H. Munnig Schmidt
Meas. Sci. Technol. 22, 094029 (2010)
default
S. Xia and S. Nihtianov
Annual Journal of Electronics 4 (2, Book 1), 12-15
ISSN: 1313-1842
(2010)
default
S. Nihtianov and X. Guo
SAIEE Africa Research Journal 101 (3), 106-111 (2010)
default
M. Celik, R. Hamid, C. Birlikseven, E. Sahin and L. Yagmur
Proceeding of 9th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 5th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods
2010
default
X. Guo and S. Nihtianov
Proc. of IEEE ICIT’2010
2010
default
R. Yang, J. van Schieveen, S. Nihtianov and J. Spronck
IEEE ICIT’2010
2010
default
S. Xia, J. van Schieveen, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc. of IEEE ICIT’2010
2010
default
S. Nihtianov
Proc. Int. Conference on CM and MFPT VII
2010
978-1-90189.2-33-8
default
R. Yang, J. van Schieveen, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc. IEEE IECON’10
2010
default
P. Křen and P. Balling
Meas. Sci. Technol. 20, 084009 (4pp) (2009)
default
V. Korpelainen, A. Iho, J. Seppä and A. Lassila
Meas. Sci. Technol. 20, 084020 (8pp) (2009)
default
K. N. Joo, J. D. Ellis, J. W. Spronck, P. J. M. van Kan and R. H. Munnig Schmidt
Opt. Lett. 34 (3), 386-388 (2009)
default
M. Cui, M. G. Zeitouny, N. Bhattacharya, S. A. van den Berg, H. P. Urbach and J. J. M. Braat
Opt. Lett. 34 (13), 1982-1984 (2009)
default
S. Nihtianov and X. Guo
Proc., IEEE Africon 2009
2009
978-1-4244-3919-5
default
S. Xia, J. van Schieveen, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 117-120.
2009
default
S. Xia and S. Nihtianov
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 121-124.
2009
default
J. van Schieveen, R. Yang, S. Nihtianov and J. Spronck
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 113-116.
2009
default
X. Guo and S. Nihtianov
Proc., Electronics-ET’09 Volume 1 , page 109-112.
2009
default
P. Křen
Int. J. Nanotechnol. 4, 702-711
ISSN: 7141-8151
(2007)
default
K. R. Koops, M. G. A. van Veghel, G. J. W. L. Kotte and M. C. Moolman
Meas. Sci. Technol. 18, 390 (2007)
default
G. Cavagnero, G. Mana and E. Massa
J. Opt. Soc. Am. A 23 (8), 1951-1959 (2006)
default
G. Cavagnero, G. Mana and E. Massa
Rev. Sci. Instrum. 76, 053106 (6pp) (2005)
default
A. Yacoot and L. Koenders
Meas. Sci. Technol. 14, N59-N63 (2003)
default
A. Yacoot and N. Cross
Meas. Sci. Technol. 14, 148-152 (2003)
default
G. N. Peggs and A. Yacoot
Phil. Trans. R. Soc. Lond. A 360, 953-968 (2002)
default
A. Yacoot, U. Kuetgens, L. Koenders and T. Weimann
Meas. Sci. Technol. 12, 1660-1665 (2001)
default
R. Bergmans, H. Haitjema, S. Wetzels and P. Schellekens
Proc. SPIE 4401, 217-226 (2001)
default
G. Basile, P. Becker, A. Bergamin, G. Cavagnero, A. Franks, K. Jackson, U. Kuetgens, G. Mana, E. W. Palmer, C. J. Robbie, M. Stedman, J. Stümpel, A. Yacoot and G. Zosi
Proc. Roy. Soc. Lond. A 456, 701-729 (2000)
default
A. Yacoot and M. J. Downs
Meas. Sci. Technol. 11, 1126-1130 (2000)
default
A. Bergamin, G. Cavagnero, L. Cordiali and G. Mana
Eur. Phys. J. D 5, 433-440 (1999)
default
J. Martin, U. Kuetgens, J. Stümpel and P. Becker
Metrologia 35, 811-817 (1998)
default
H. Haitjema, N. Rosielle, G. Kotte and H. Steijaert
Meas. Sci. Technol. 9, 1098-1104 (1998)
default
A. Lassila, E. Ikonen and K. Riski
Optical Engineering 34, 2619-2622 (1995)
default
A. J. Lewis
Meas. Sci. Technol. 5, 694-703 (1994)
default
E. Ikonen and K. Riski
Metrologia 30, 95-104 (1993)
default
G. Mana
Metrologia 26 (2), 87-93 (1989)
Export as:
BibTeX, XML