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Seminarreihe "Metrologie für die digitale Transformation" - Metrologie für Daten

Sehr geehrte Kolleginnen und Kollegen,

das neue Jahr hat begonnen und wir starten frisch mit einem weiteren Beitrag in unserer Seminarreihe "Metrologie für die digitale Transformation".

Der erste Beitrag in diesem Jahr kommt aus dem Themenfeld "Metrologie für Daten". Herr Dr. Daniel Hutzschenreuter gibt Ihnen einen Überblick zu aktuellen Entwicklungen und Anwendungsbeispielen für digitale metrologische Daten auf der Basis des D-SI Datenmodells. Weiterhin werden FAIR Prinzipien für Daten diskutiert und Einblicke in die CIPM Aktivitäten zum Digitalen SI gegeben.  

Sie können an dem Beitrag 

Metrologie für Daten" - Entwicklungen auf Basis des D-SI Datenmodells

am 23. Februar 2022 von 14 bis 15 Uhr über den hier aufgeführten Link teilnehmen und Ihre Fragen stellen.

Sie sind alle herzlich eingeladen. Vorkenntnisse sind nicht notwendig. Die angesprochenen Themen können vor allem für DCC-Nutzende, Entwicklerinnen und Entwickler von Datenformaten und Softwareschnittstellen sowie zur Publikationen von Daten nutzbar sein.

Auf Wunsch mehrerer Teilnehmer können die Beiträge zu dieser Seminarreihe ab sofort ohne Anmeldung besucht werden. Die Ankündigungen zu den Beiträgen werden rechtzeitig im Intranet unter "Veranstaltungen", "Aktuelle Informationen" und den PTB-Chat Kanälen bekannt gegeben.

Wir freuen uns über Ihre Teilnahme.

Ihr Team vom FB 9.4

 

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Ihre Zugangsdaten

Meeting-Link:

metrology.webex.com/metrology/j.php

Meeting-Passwort: 5u538Dc9p3n

Meeting-Kennnummer: 2741 550 5583

Links:
metrology.webex.com/metrology/j.php