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3. Topical Meeting Frontiers in Optical Metrology

26.11.2018

Vom 8.-25. Oktober 2018 fand unter der wissenschaftlichen Leitung des Bremer Instituts für angewandte Strahltechnik GmbH (Prof. Bergmann) und der PTB (Dr. Bodermann) in der TU Delft das 3. Topical Meeting Frontiers in Optical Metrology im Rahmen der biennalen Konferenz der European Optical Society EOSAM2018 statt.

Mit rund 100 Teilnehmern aus Wissenschaft und Industrie und 56 wissenschaftlichen Beiträgen aus 19 Ländern war die Teilkonferenz sehr gut besucht und bot vielfältige Möglichkeiten zum wissenschaftlichen Austausch über neueste Entwicklungen der angewandten optischen Messtechnik, auch mit den Teilnehmern der parallel stattfindenden Teilkonferenzen der EOSAM aus benachbarten Themenbereichen der Optik. Schwerpunktthemen der Frontiers in Optical Metrology waren Nanometrologie (u. a. Plenarvortrag Prof. Alan Diebold SUNY Polytechnic Institute, USA), Oberflächenmetrologie für die Optikfertigung sowie optische Sensorik. Für nähere Informationen siehe: http://www.myeos.org/events/eosam2018_tom6. (B. Bodermann, FB 4.2, bernd.bodermann(at)ptb.de)