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Virtuelle Experimente

Arbeitsgruppe 8.42

Übersicht

In einem virtuellen Experiment wird ein Messprozess mathematisch modelliert und auf dem Computer simuliert. Dabei wird angestrebt, das physikalische Experiment möglichst realistisch abzubilden. Mittels virtueller Experimente lassen sich unterschiedliche Szenarien in einfacher Weise durchspielen und Messverfahren können so auf dem Computer entworfen und spezifiziert werden. Darüber hinaus lassen sich mit virtuellen Experimenten die Genauigkeiten realisierter Messsysteme abschätzen. Durch Sensitivitätsanalysen können dominante Unsicherheitsquellen identifiziert und quantitativ untersucht werden, was dann zur Optimierung eines Messsystems genutzt werden kann. Virtuelle Experimente sind auch bei der Entwicklung von Methoden der Datenanalyse für reale Experimente hilfreich. So können unterschiedliche Schätzverfahren unter realistischen Bedingungen verglichen und Annahmen über die Verteilung von Messwerten geprüft werden.

Virtueller Nachbau eines Tilted-Wave Interferometers (links) und eine virtuelle 3D Messung einer optischen Oberfläche (rechts) mittels SimOptDevice.

Forschung

Forschungsschwerpunkte in der Arbeitsgruppe 8.42 der PTB sind virtuelle Experimente für optische Messvorrichtungen und die zugehörige Entwicklung von Datenanalyseverfahren für die Messdatenauswertung. Hierzu wurde die Simulationsumgebung SimOptDevice als Softwarebibliothek entwickelt, mit der mittlerweile eine Vielzahl von Anwendungen für die Formmessung, Photometrie, sowie der Längen- und Koordinatenmesstechnik realisiert worden sind. SimOptDevice wird ständig gepflegt und in seiner Funktionalität erweitert. Ein aktueller Schwerpunkt bei den Anwendungen von SimOptDevice ist das Tilted-Wave Interferometer zur Messung von Asphären- und Freiformoberflächen. Dabei werden Datenanalyseverfahren zur Lösung des dazugehörigen inversen Problems, sowie zur Justage des Messverfahrens entwickelt und mittels virtueller Experimente erprobt. Weitere Forschungsfragestellungen in der Arbeitsgruppe 8.42 der PTB sind die Ermittlung von Messunsicherheiten bei realen Messungen unter Zuhilfenahme virtueller Experimente sowie die Untersuchung von Möglichkeiten, Methoden des „deep learning“ im Zusammenhang mit virtuellen Experimenten einzusetzen. So lässt sich etwa mittels virtueller Experimente eine große Datenbank generieren, die dann für das Trainieren eines neuronalen Netzes zur Auswertung experimenteller Daten genutzt werden kann.

Publikationen

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Artikel

Titel: Coupled distance sensor systems for high-accuracy topography measurement: Accounting for scanning stage and systematic sensor errors
Autor(en): C. Elster, I. Weingärtner;M. Schulz
Journal: Precision Engineering
Jahr: 2006
Band: 30
Ausgabe: 1
Seite(n): 32--38
DOI: 10.1016/j.precisioneng.2005.04.001
ISSN: 01416359
Web URL: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0141635905000504
Schlüsselwörter: Angular measurement,Distance sensor,High accuracy,High resolution,Least-squares,Topography,Uncertainty
Marker: 8.42,Form,SimOpt
Zusammenfassung: Scanning topography measurements using systems of coupled distance sensors suffer from the presence of scanning stage and systematic sensor errors. While scanning stage errors can be estimated for suitably-designed sensor systems, it is usually not possible to simultaneously estimate both scanning stage and systematic sensor errors. Additional angular scanning stage measurements can solve this problem, and potentials and limitations of such a proceeding will be assessed. It is shown that perfect topography reconstruction can be achieved in the presence of systematic sensor and certain scanning stage errors provided that the measurements are noise-free and no further systematic errors emerge. In general, the topography is reconstructed by the application of least-squares, and the uncertainty associated with the reconstructed topography is derived. Resulting topography accuracies are evaluated for different noise levels of the distance sensor and angular scanning stage measurements, and practical considerations are discussed. The gain in accuracy due to accounting for scanning stage and systematic sensor errors can be large, and high accuracies can be reached.

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