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Nachrichtenarchiv 2019

Metrologie mit Synchrotronstrahlung

Analía Fernández Herrero, Doktorandin in der Arbeitsgruppe 7.14 „EUV-Nanometrologie“, hat für ihre Arbeiten zu Kantenrauheit bei geätzten Linienstrukturen den Posterpreis auf dem Adlershofer Forschungsforum am 11. November 2019 gewonnen. In ihren Untersuchungen mit Röntgenkleinwinkelstreuung ...

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Beim Erhitzen (z.B. frittieren) von Lebensmitteln kommt es zu so genannten Maillard-Reaktionen, bei denen als Produkt einer chemischen Umwandlung Melanoidine entstehen, welche die Bräunung und geschmackliche Prägung bestimmen. Auf Grund der komplexen Strukturen der Melanoidine konnten bislang nur vereinzelt physiologisch wirksame Verbindungen identifiziert und in Lebensmitteln quantifiziert...

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Am 22. und 23. Oktober 2019 fand im Hermann-von-Helmholtz-Bau das 313. PTB-Seminar "VUV and EUV Metrology" statt. Bei diesem in zweijährigem Turnus mittlerweile zum fünften Mal veranstalteten Workshop nahmen 107 Teilnehmer aus Forschungs- und Metrologieinstituten sowie aus Unternehmen teil, und diskutierten ...

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Intensität der Undulatorstrahlung der einzelnen Elektronenpakete, gemessen mit einer Fotodiode auf der zweiten Harmonischen bei der Wellenlänge 532 nm.

In Kooperation mit dem Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB) und der Tsinghua-Universität Peking wurde an der Metrology Light Source (MLS), dem Elektronenspeicherring der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt in Berlin, der Machbarkeitsnachweis für die erste Stufe des sogenannten „Steady State Micro Bunching“ (SSMB) erfolgreich erbracht. Es konnte damit erstmals an einem Speicherring gezeigt werden,...

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Metrologie mit Synchrotronstrahlung für die Halbleiterfertigung

Die Ankündigung der großen Halbleiterproduzenten Samsung und TSMC im Herbst 2018, EUV-Lithografie (EUVL) für die Herstellung ihrer High-End-Prozessoren einzusetzen, markiert den kommerziellen Durchbruch dieser Technologie nach einer langen Phase der Vorlaufforschung. Die PTB unterstützt bereits seit zwanzig Jahren die Entwicklung von...

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