Profil
Die Arbeitsgruppe Röntgenradiometrie ist zuständig für die Strahlungsmesstechnik im Röntgenbereich und für den Einsatz von Röntgenstrahlung in der dimensionellen Nanometrologie. Einige der Aufgaben sind die Kalibrierung von Röntgendetektoren, die Charakterisierung röntgenoptischer Komponenten, die Dickenbestimmung von Nanoschichten und die Größen- und Konzentrationsbestimmung von Nanopartikeln. Die AG betreibt 3 Strahlrohre bei BESSY II im Spektralbereich von 1,6 keV bis 10 keV und nutzt 2 weitere für Messungen in angrenzenden Spektralbereichen.
Forschung/Entwicklung
- Entwicklung von Instrumentierung zur Charakterisierung von Silizium Porenoptiken für die geplante Röntgenmission ATHENA in Kooperation mit der ESA
- Charakterisierung von photoemissiven Detektoren und Multilayer-Spiegeln für die Plasmadiagnostik in Kooperation mit CEA (Frankreich)
- Charakterisierung von großflächigen Hybrid-Pixel-Röntgendetektoren in Kooperation mit Dectris Ltd. (Schweiz)
- Rückführbare Konzentrationsbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuung (Small-Angle X-ray Scattering, SAXS)
- Charakterisierung von Nanoobjekten mit SAXS u. a. in Zusammenarbeit mit dem Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB)
- Charakterisierung von nanostrukturierten Oberflächen mit GISAXS (grazing Incidence SAXS)
- Charakterisierung von Nanomaterialien in biologischen Medien und für Nanomedizin (EPM-Projekt MetrINo)
Dienstleistungen
Die folgenden Kalibrierungen gemäß QM-Handbuch der Abt. 7 werden in AG 7.21 durchgeführt:
- Bestimmung der spektralen Empfindlichkeit von Strahlungsempfängern im Photonenenergiebereich von 1.75 keV bis 60 keV (7.2-1.6, 7.2-1.9)
- Bestimmung des spektralen Reflexion- oder Transmissionsgrads von Spiegeln und Filtern im Photonenenergiebereich von 1.75 keV bis 10 keV (7.2-1.8)
- Bestimmung der Dicke von Schichten auf spiegelnden Oberflächen im Bereich von 2 nm bis 1000 nm (materialabhängig) mit Röntgenreflektometrie (7.2-1.11)
- Bestimmung des mittleren Durchmessers von Nanopartikeln in Suspension im Bereich von 3 nm bis 300 nm mit Röntgenkleinwinkelstreuung (7.2-1.12)
- Bestimmung der Anzahlkonzentration von sphärischen Partikeln in Suspension mit Röntgenkleinwinkelstreuung (7.2-1.15)
Informationen
- Kalibrierung von Röntgendetektoren / Kryoradiometrie
- Charakterisierung von röntgenoptischen Komponenten / Reflektometrie
- Bestimmung von Schichtdicken mit Röntgenreflektometrie
- Röntgenradiometrie zur Charakterisierung von Weltrauminstrumentierung
- Größenbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuung
- Charakterisierung nanostrukturierter Oberflächen mit Röntgenkleinwinkelstreuung unter streifendem Strahlungseinfall (GISAXS)