Röntgenmesstechnik mit Synchrotronstrahlung

Fachbereich 7.2

Aufgaben

Nutzung von Synchrotronstrahlung insbesondere im Röntgenbereich zur Bearbeitung grundlegender und angewandter metrologischer Aufgaben mit dem Schwerpunkten Radiometrie, Spektrometrie und Nanometrologie:

Betrieb und Nutzung der Metrology Light Source (MLS) und von BESSY II als berechenbare primäre Strahlernormale
Realisierung der Skala der spektralen Empfindlichkeit im Röntgenbereich und Kalibrierung von Röntgendetektoren
Kalibrierung von Strahlungsquellen
Charakterisierung von Weltrauminstrumentierung
Reflektometrie an optischen Komponenten im Röntgenbereich und Schichtdickenbestimmung mit Röntgenreflektometrie (XRR)
Größenbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuuung (SAXS)
Untersuchung von nanostrukturierten Oberflächen mit Röntgenstreuung (GISAXS)
Entwicklung und Anwendung von referenzprobenfreier Röntgenfluoreszenzanalyse für die Materialanalytik

Nachrichten

Gemeinsame Pressemitteilung mit dem Helmholtz-Zentrum Berlin...

[ mehr ]

Die Charakterisierung von nanostrukturierten Oberflächen mit einer Empfindlichkeit im sub-nm-Bereich ist von großer Bedeutung für die Entwicklung der nächsten Generation integrierter elektronischer Schaltungen. In der PTB wurden in den letzten Jahren verschiedene...

[ mehr ]

Der Effekt des SSMB wurde weltweit erstmals an der Metrology Light Source (MLS) der PTB in Berlin-Adlershof im Rahmen eines „Proof of Principle“-Experiments in Zusammenarbeit mit dem Helmholtz-Zentrum Berlin und der Tsinghua-Universität Peking nachgewiesen [1]. Es wurde gezeigt, dass Mikrobunch-Strukturen, die durch Wechselwirkung der Elektronenbunche mit einem Laser erzeugt...

[ mehr ]

Weitere Nachrichten