
Aufgaben
- Betrieb und Nutzung der Metrology Light Source (MLS) und von BESSY II als berechenbare primäre Strahlernormale
- Realisierung der Skala der spektralen Empfindlichkeit im Röntgenbereich und Kalibrierung von Röntgendetektoren
- Kalibrierung von Strahlungsquellen
- Charakterisierung von Weltrauminstrumentierung
- Reflektometrie an optischen Komponenten im Röntgenbereich und Schichtdickenbestimmung mit Röntgenreflektometrie (XRR)
- Größenbestimmung von Nanopartikeln mit Röntgenkleinwinkelstreuuung (SAXS)
- Untersuchung von nanostrukturierten Oberflächen mit Röntgenstreuung (GISAXS)
- Entwicklung und Anwendung von referenzprobenfreier Röntgenfluoreszenzanalyse für die Materialanalytik