Aufgaben
- Realisierung der Skala der spektralen Empfindlichkeit im UV-, VUV-, EUV- und weichen Röntgenbereich mit Kryoradiometern als primäre Empfängernormale
- Kalibrierung von Strahlungsquellen und -detektoren vom UV- bis in den weichen Röntgenbereich
- Photonendiagnostik und Materialforschung an Röntgenlasern
- Charakterisierung von Weltrauminstrumentierung
- Reflektometrie an optischen Komponenten und Materialien vom UV- bis in den weichen Röntgenbereich, insbesondere für die EUV-Lithographie
- Untersuchung von Nano-Schichten und -Strukturen über Streumethoden und IR-Nahfeldmikroskopie
- Quantitative Charakterisierung von Oberflächen und dünnen Schichten mit VUV-Ellipsometrie, -Elektronenspektroskopie und IR-Spektroskopie
