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In-Situ-Lebensdauermessungen an OLEDs

22.12.2011

Neben einer effizienten Lichtausbeute ist insbesondere auch die Lebensdauer moderner Lichtquellen wie z.B. OLEDs von größter wirtschaftlicher Bedeutung.
Da der Einsatz von Reflektoren oder Blendungsbegrenzungen bei der OLED Technologie - im Gegensatz zu herkömmlichen Lichtquellen - nicht erforderlich ist, sind die leuchtenden OLED-Lichtkacheln in den meisten Applikationen direkt sichtbar.
Daher müssen - neben den üblichen lebensdauerbestimmenden Kriterien - auch weitere Einflussgrößen, wie z.B. die Änderung der Leuchtdichtehomogenität, bewertet werden.
Zur Identifizierung solcher lebensdauerbestimmender Kriterien wurde in der Abteilung Optik ein Messplatz entwickelt, an dem gleichzeitig 60 OLEDs über lange Zeiträume betrieben werden können. Hervorzuheben ist die Möglichkeit, Messungen während des Betriebs (in situ) an einzelnen OLEDs durchzuführen ohne deren Einbauort oder -orientierung zu ändern. D.h. die OLEDs müssen während der gesamten Alterungsprozedur weder abgeschaltet noch an einen separaten Messplatz zur Charakterisierung gebracht werden. Während der laufenden Alterung werden die Werte einer Vielzahl verschiedener Größen, wie z.B. Leuchtdichte, Farbort, Strom, Spannung oder Temperatur, in ständiger Wiederholung gemessen [1].
Die gewonnenen Ergebnisse fließen in die laufenden Arbeiten des neuen, von der PTB geleiteten technischen Komitees der internationalen Beleuchtungskommission CIE ein und unterstützen die Entwicklung einer ersten internationalen Norm zur Bestimmung der Lebensdauer von OLEDs [2].



Alterungsmessplatz der PTB zur Bestimmung lebensdauerbeeinflussender Kriterien von OLEDs.


[1]    T. Gerloff, A. Sperling, D. Lindner, M. Meyer, S. Pendsa, In Situ Measurements of OLED Lifetime, Proc. NEWRAD 2011. 86 (2011)

[2]    CIE TC2-68: Optical measurement methods for OLEDs used for lighting, Chair: T. Gerloff, div2.cie.co.at