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Optische Sub-Wellenlängen- und Nanometrologie

Referenzen
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T. Käseberg, T. Siefke, S. Kroker, B. Bodermann
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T. Siefke, B. Bodermann, U. Zeitner, S. Burger, J. Meyer, T. Käseberg, T. Käseberg, W. Dickmann, J. Dickmann, C. B. Rojas Hurtado, S. Kroker
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W. Wu, H. S. Wasisto, J. D. Prades, S. Kroker, T. Dziomba, T. Weimann, P. Hinze, B. Bodermann, L. Weber, A. Waag
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W. Wu, J. Grundmann, P. Hinze, T. Weimann, B. Bodermann, S. Kroker, H. S. Wasisto, A. Waag
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T. Siefke, W. Dickmann, T. Weichelt, M. Steinert, J. Dickmann, C. B. Rojas Hurtado, B. Bodermann, S. Kroker
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W. Wu, J. D. Prades, S. Kroker, B. Bodermann, B. Bodermann, T. Weimann, P. Hinze, F.-N. Stapelfeld, L. Weber, H. S. Wasisto
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B. Bodermann, G. Ehret, J. Endres, M. Wurm
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B. Bodermann, G. Ehret, J. Endres, M. Wurm
Surface Topography: Metrology and Properties 4(2), 024014-1 - 024014-13 ( 2016)

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D. Nies, S. Buetefisch, D. Naparty, M. Wurm, O. Belai, D. Shapiro, V. Nesterov
Spie Optics + Photonics 2016, San Diego, USA, 28, August - 01, September, 2016
Optical trapping and optical micromanipulation XIII; Proceedings of SPIE Band 9922 (2016) , Seite 99222L-1 - 99222L-6
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W. Wu, F.-N. Stapelfeld, T. Weimann, P. Hinze, B. Bodermann, S. Kroker, H. S. Wasisto, A. Waag, T. Dziomba