[1]  I. Fortmeier,  M. Stavridis, A. Wiegmann, M. Schulz, W. Osten, C. Elster, Evaluation of absolute form measurements using a tilted-wave interferometer, Optics Express 24(4) (2016), S. 3393-3404.
[2]    I. Fortmeier,  M. Stavridis, A. Wiegmann, M. Schulz, W. Osten, C. Elster, Analytical Jacobian and its application to tilted-wave interferometry, Optics Express 22(18) (2014), S. 21313--21325.
[3]    I. Fortmeier,  M. Stavridis, A. Wiegmann, Verfahren zum Optimieren eines simulierten optischen Systems,  Deutsches Patentamt, DE102014001323 B4, Anmeldedatum: 04.Februar 2014.
[4]    I. Fortmeier,  M. Stavridis, A. Wiegmann, M. Schulz, G. Baer, C. Pruss, W. Osten, C. Elster, Results of a Sensitivity Analysis for the Tilted-Wave Interferometer, Osten, W. (Hrsg.): Fringe 2013, Springer, 2014, S. 701--706.
[5]    I. Fortmeier,  M. Stavridis, A. Wiegmann, M. Schulz, G. Baer, C. Pruss, W. Osten, C. Elster,  Sensitivity analysis of tilted-wave interferometer asphere measurements using virtual experiments, Proceedings of SPIE 8789 (2013), S. 878907.