Der Gitterparameter von Si-28 wird im Rahmen der Kristalldichtemethode für die Neudefinition der SI-Masseneinheit kg mit einem Röntgeninterferometer gemessen. Dazu ist eine stabile Relativposition der beiden separaten Teilkristalle aus Si-28 von wenigen 10 pm erforderlich. Dieses Ziel wird durch aktive und passive Dämpfungen, Isolationen und Regelungen erreicht. Die neunstufige Abfolge dieser Maßnahmen bekämpft gebäudeexterne und -interne Bodenschwingungen, Raumschall und Körperschall des Aufbaus selbst in einem Frequenzbereich von 0,2 bis 200 Hz. Ergänzend wird der Luftstrom der Klimatisierung so weit wie möglich beruhigt. (U. Kuetgens, FB 4.2, ulrich.kuetgens(at)ptb.de

Im Rahmen einer Kooperation der TU Braunschweig, des Laboratory for Emerging Nanometrology (LENA) und der PTB wurden nanostrukturierte Mikrofarbfilter basierend auf periodischen Subwellenlängen-Metallgittern entwickelt. Mit einem speziell designten Mikroskop-Spektrometer für den UV-NIR Spektralbereich wurden die Transmissionsspektren der 10 µm x 10 µm kleinen Filter gemessen und mit rigorosen Simulationsrechnungen verglichen. Die geringe spektrale Breite bei niedrigen Seitenbandintensitäten dokumentiert die Eignung als schmalbandige effiziente Mikrofarbfilter. (B. Bodermann, FB 4.2, bernd.bodermann(at)ptb.de)

Vom 8.-25. Oktober 2018 fand unter der Leitung des Bremer Instituts für angewandte Strahltechnik GmbH (Prof. Bergmann) und der PTB (Dr. Bodermann) in der TU Delft das 3. Topical Meeting Frontiers in Optical Metrology im Rahmen der biennalen Konferenz der European Optical Society EOSAM2018 statt. Mit rund 100 Teilnehmern und 56 wissenschaftlichen Beiträgen aus 19 Ländern war die Teilkonferenz sehr gut besucht. Schwerpunktthemen der Frontiers in Optical Metrology waren Nanometrologie Oberflächenmetrologie für die Optikfertigung sowie optische Sensorik. (B. Bodermann, FB 4.2, bernd.bodermann(at)ptb.de)