Logo PTB

Hochfrequenzmessungen an Dielektrika, pulsförmige elektrische Signale, Vermischtes, Übersichtsartikel

Veröffentlichungen vor 2020

 

H. Füser, S. Eichstädt, K. Baaske; C. Elster; K. Kuhlmann; R. Judaschke; K. Pierz; M. Bieler:
Opens external link in new windowOptoelectronic time-domain characterization of a 100 GHz sampling oscilloscope.
Measurement Science and Technology, 23 (2012), 2, 025201-1-025201-10,
dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/2/025201, stacks.iop.org/MST/23/02520 IOP Publ.. ISSN 0957-0233 (print) ; ISSN 1361-6501 (online)

 

H. Füser, R. Judaschke, and M. Bieler:
High-precision frequency measurements in the THz spectral region using an unstabilized femtosecond laser.
Applied Physics Letters Vol. 99 (2011), 12, S. 121111-1 - 121111-3, dx.doi.org/10.1063/1.3640234, link.aip.org/link/doi/10.1063/1.3640234, ISBN / ISSN ISSN 0003-6951 (print) ; ISSN 1077-3118 (online)

 

F. Rausche:
Breitbandige Bestimmung der komplexen Permittivität von dielektrischen Substanzen.
Aktuelle Fortschritte von Kalibrierverfahren im Nieder- und Hochfrequenzbereich 2011: Vorträge des 261. PTB-Seminars am 18. Mai 2011
(PTB-Bericht PTB-E-98) (2011), Wirtschaftsverlag NW, Verlag für neue Wissenschaft. ISBN 978-3-86918-151-6 ; ISSN 0341-6674

 

U. Arz, M. Janezic, W. Heinrich:
Wideband Relative Permittivity Extraction Based on CPW Phase Constant Measurements.
77th ARFTG Conference Digest, pp. 37-39, June 10, 2011.

M.D. Janezic, U. Arz, S. Begley, and P. Bartley:
Improved Permittivity Measurement of Dielectric Substrates by Use of the TE-111 Mode of a Split-cylinder Cavity.
Practical applications of nonlinear measurements : Digest 73rd ARFTG Microwave Measurement Conference, Boston, June 12, (2009): [CD-ROM], S. 124 - 126, ISBN 978-1-4244-3443-5.

M. Bieler, M. Spitzer, K. Pierz and U. Siegner:
Improved Optoelectronic Technique for the Time-Domain Characterization of Sampling Oscilloscopes.
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Vol. 58, No. 4 (April 2009), S. 1065 - 1071

U. Arz, J. Leinhos, M.D. Janezic:
Broadband Dielectric Material Characterization: A Comparison of On-Wafer and Split-Cylinder Measurements.
IEEE European Microwave Conference EuMC 2008, Proc. pp. 913–916, October 27-31, 2008.

U. Arz, J. Leinhos and D. Janezic:
Effect of material properties on broadband electrical behavior of coplanar waveguides.
CPEM'2008 Digest, 2008 Conf. on Precision Electromagnetic Measurements, Broomfield (CO), S. 470 - 471, ISBN 978-1-424-42399-6 (print) ; ISBN 978-1-424-42400-9 (CD-ROM)

M. Bieler, M. Spitzer, G. Hein, K. Pierz and U. Siegner:
Calibration of the step response of a 70 GHz sampling oscilloscope using a novel optoelectronic technique.
CPEM'2008 Digest, 2008 Conf. on Precision Electromagnetic Measurements, Broomfield (CO), S. 678 - 679, ISBN 978-1-424-42399-6 (print) ; ISBN 978-1-424-42400-9 (CD-ROM)

U. Arz, J. Leinhos:
Broadband Permittivity Extraction from On-Wafer Scattering-Parameter Measurements.
12th IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects, May 12-15, 2008.

S. Seitz, M. Bieler, M. Spitzer, G. Hein, K. Pierz and U. Siegner:
Optoelectronic time-domain characterization of a 70 GHz sampling oscilloscope.
CPEM'2006 Digest, 2006 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Torino, S. 18-19

M. Bieler, S. Seitz, M. Spitzer, G. Hein, K. Pierz, U. Siegner, M.A. Basu, A.J.A. Smith and M.R. Harper:
Rise-time calibration of 50 GHz sampling oscilloscopes: Intercomparison betweeen PTB and NPL.
CPEM'2006 Digest, 2006 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Torino, S. 20-21; IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Vol. 56, No.2 (April 2007), S. 266-270

M. Spitzer, S. Seitz, M. Bieler und U. Siegner:
Kalibrierung von 70-GHz-Oszilloskopen.
Tagungsband 14. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 7. - 9. März 2006, Düsseldorf, S. 205-211
ISBN 3-8007-2933-4 ; ISBN 978-3-8007-2933-3

S. Seitz, M. Bieler, M. Spitzer, K. Pierz, G. Hein and U. Siegner:
Optoelectronic measurement of the transfer function and time response of a 70 GHz sampling oscilloscope.
Measurement Science and Technology Vol. 16 (2005), S. L7 - L9
ISBN / ISSN 0957-0233

M. Spitzer, K. Münter, T. Schrader:
Kalibrierung eines VLF/HF/VHF/UHF-Kalibrier-Pulsgenerators im Zeit- und Frequenzbereich.
In: Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV 2004, 12. Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 10.-12.02.2004,
Verlag VDE-Verlag : Berlin 2004, S. 483 - 490 [print ed.]; [CD-ROM] file name: 57-spitzer.pdf , ISBN 3-8007-2810-9

M. Spitzer, M. Bieler und U. Siegner:
Neue Kalibriermöglichkeiten für 50-GHz-Osziloskope auf der Grundlage optoelektronischer Verfahren.
In: H. Bachmair (Hrsg.): Fortschritte bei der Messung elektrischer Größen - Neue Messverfahren von DC&LF bis HF -. Vorträge des 181. PTB-Seminars. PTB-Bericht E-82, Braunschweig, August 2003, S. 99-112, ISBN 3-86509-027-3

D. Schubert:
Meßverfahren zur Kalibrierung von HF-Rauschleistungsgeneratoren.
In: H. Bachmair und U. Stumper (Hrsg.): Aktuelle Probleme der Weitergabe von HF-Meßgrößen. Vorträge des 139. PTB-Seminars. PTB-Bericht E-58, Braunschweig: PTB, Juni 1998, S. 85-93

L. Dallwitz, D. Janik und M. Spitzer:
Die Rückführung von Oszilloskopen für die Messung von Impulsanstiegszeiten.
In: VDI- Bericht 1255, VDI Verlag, Düsseldorf, 1996, S. 339 - 345

J. R. Birch, G. J. Simonis, M. N. Afsar, R. N. Clarke, J. M. Dutta, H. M. Frost, X. Gerbaux, A. Hadni, W. F. Hall, R. Heidinger, W. W. Ho, C. R. Jones, F. Königer, R. L. Moore, H. Matsuo, T. Nakano, W. Richter, K. Sakai, M. R. Stead, U. Stumper, R. S. Vigil and T. B. Wells:
An intercomparison of measurement techniques for the determination of the dielectric properties of solids at near millimetre wavelenghts.
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. MTT-42, No. 6 (June 1994), S. 956-965

U. Stumper:
Six-Port and Four-Port Reflectometers for Complex Permittivity Measurements at Submillimeter Wavelengths.
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. MTT-37 (Jan. 1989), S. 222-230

U. Stumper:
Measurement of the Complex Permittivity of Microwave Materials with a Submillimeter Waveguide Four-Port Reflectometer.
CPEM'88 Digest, 1988 Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Tsukuba, S. 141-142

U. Stumper:
Dielectric Measurements by Multiport Reflectometers at Submillimeter Wavelengths.
Digest 11th Internat. Conf. on Infrared and Millimeter Waves, Tirrenia/Pisa 1986, S. 164-166

U. Stumper:
Dielectric Measurement by Submillimetre Six-Port Reflectometry.
Digest Coll. 1986/73 on Industrial and Medical Application of Microwaves, Institution of Electrical Engineers, London 1986, S. 5/1-5/4

H. Bayer, D. Janik und U. Stumper:
Hochfrequenzmessungen in der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) und im Deutschen Kalibrierdienst (DKD).
Konferenzbericht der MIOP'86, Fachmesse und Konferenz für Höchstfrequenztechnologie, Bd. 2, Network GmbH, Hagenburg 1986

Erhu Ni and U. Stumper:
Permittivity Measurements Using a Frequency-Tuned Microwave TE01 Cavity Resonator.
IEE Proceedings, Vol. 132, pt. H [Microwaves, Propagation and Antennas] (1985), S. 27-32

U. Stumper:
Automatic Determination of the Complex Permittivity of Liquids of Low Dielectric Loss.
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. IM-34 (1985), S. 353-356

U. Stumper und Erhu Ni:
Meßplätze zur Bestimmung der komplexen Dielektrizitätszahl verlustarmer Festkörper und Flüssigkeiten im Hochfrequenzbereich.
Konferenzbericht der Internationalen Messe für Bauelementefertigung 1982, Bd. 3, Network, Wunstorf 1982, S. 95-109

U. Stumper:
Automatic Measurement of the Complex Permittivity at Millimeter Wavelengths.
International Journal of Infrared and Millimeter Waves, Vol. 2 (1981), S. 999-1014

Veröffentlichungen nach 2020