Logo PTB
Symbolbild "Zeitschriften"

3D-AFM: Verbesserte 3D-Empfindlichkeit

PTB-News 1.2019
08.02.2019
Besonders interessant für

Hersteller von Rasterkraftmikroskopen (AFM)

Hersteller von Mikroskop-Zubehör

Eines der neuen Designs, die für ein ausgeglichenes Verhältnis der Steifigkeiten sorgen: ein modifizierter Kantilever mit Aussparungen im Schaft.

Die heutige Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, kurz AFM) steht vor der Herausforderung, dreidimensionale Strukturen zuverlässig zu messen. Bisher funktioniert das nicht ganz fehlerfrei: Handelsübliche Kantilever (Messnadeln eines AFM) reagieren unausgeglichen, wenn sie Kräften der drei Raumdimensionen ausgesetzt sind. In der PTB wurde dieses Problem mit neuen Kantilevern gelöst. Sie reagieren dank einer neuen Struktur sensitiver bei dreidimensionalen Einflüssen und neigen beim Rastern von Schrägen unterschiedlicher Steigungen nicht mehr zum Rutschen. (Technologieangebot 476)

Vorteile

größere Empfindlichkeit bei gleichzeitig annähernd isotroper Steifigkeit

echte 3D-Antastung durch Festkörpergelenke

integrierbar in bestehende Rasterkraftmikroskope

Ansprechpartner für Technologieangebote

Andreas Barthel, Telefon: (0531) 592-8307, Opens window for sending emailandreas.barthel(at)ptb.de, Opens internal link in current windowwww.technologietransfer.ptb.de