3D-AFM: Verbesserte 3D-Empfindlichkeit
Die heutige Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, kurz AFM) steht vor der Herausforderung, dreidimensionale Strukturen zuverlässig zu messen. Bisher funktioniert das nicht ganz fehlerfrei: Handelsübliche Kantilever (Messnadeln eines AFM) reagieren unausgeglichen, wenn sie Kräften der drei Raumdimensionen ausgesetzt sind. In der PTB wurde dieses Problem mit neuen Kantilevern gelöst. Sie reagieren dank einer neuen Struktur sensitiver bei dreidimensionalen Einflüssen und neigen beim Rastern von Schrägen unterschiedlicher Steigungen nicht mehr zum Rutschen. (Technologieangebot 476)
größere Empfindlichkeit bei gleichzeitig annähernd isotroper Steifigkeit
echte 3D-Antastung durch Festkörpergelenke
integrierbar in bestehende Rasterkraftmikroskope
Ansprechpartner für Technologieangebote
Andreas Barthel, Telefon: (0531) 592-8307, andreas.barthel(at)ptb.de, www.technologietransfer.ptb.de