3D-AFM: Verbesserte 3D-Empfindlichkeit
PTB-News 1.2019
08.02.2019
Eines der neuen Designs, die für ein ausgeglichenes Verhältnis der Steifigkeiten sorgen: ein modifizierter Kantilever mit Aussparungen im Schaft.
Die heutige Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, kurz AFM) steht vor der Herausforderung, dreidimensionale Strukturen zuverlässig zu messen. Bisher funktioniert das nicht ganz fehlerfrei: Handelsübliche Kantilever (Messnadeln eines AFM) reagieren unausgeglichen, wenn sie Kräften der drei Raumdimensionen ausgesetzt sind. In der PTB wurde dieses Problem mit neuen Kantilevern gelöst. Sie reagieren dank einer neuen Struktur sensitiver bei dreidimensionalen Einflüssen und neigen beim Rastern von Schrägen unterschiedlicher Steigungen nicht mehr zum Rutschen. (Technologieangebot 476)
Vorteile
größere Empfindlichkeit bei gleichzeitig annähernd isotroper Steifigkeit
echte 3D-Antastung durch Festkörpergelenke
integrierbar in bestehende Rasterkraftmikroskope
Ansprechpartner für Technologieangebote
Andreas Barthel, Telefon: (0531) 592-8307, 
andreas.barthel(at)ptb.de, 
www.technologietransfer.ptb.de