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Artikel
Titel: | Thermal expansion and compressibility of single-crystal silicon between 285 K and 320 K |
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Autor(en): | G. Bartl, C. Elster, J. Martin, R. Schödel, M. Voigt and A. Walkov |
Journal: | Measurement Science and Technology |
Jahr: | 2020 |
Band: | 31 |
Ausgabe: | 6 |
DOI: | 10.1088/1361-6501/ab7359 |
Marker: | 8.4,8.42,Unsicherheit,Regression |