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121. Determination of atomic fundamental parameters  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Determination of atomic fundamental parameters Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
122. Preise für junge Wissenschaftlerinnen  
Datum: 25.09.2014
Prozentuale Relevanz: 14 %
Dr. Beatrix Pollakowski aus der Arbeitsgruppe 7.24 Röntgen- und IR-Spektrometrie hat den diesjährigen Young post-doc Award in X-ray Spectrometry der European X-ray Spectrometry Association (EXSA)  
123. Publikationen  
Datum: 29.01.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Bitte nutzen Sie unsere Datenbank für Publikationen ( PTB-Publica). Einen Überblick über die Publikationen finden Sie im Dokument " AG112-Publikationen". Vorträge Vortrag zu Revision  
124. Bekanntmachung  
Datum: 14.04.2021
Prozentuale Relevanz: 14 %
Bekanntmachung Physikalisch-Technische Bundesanstalt Bekanntmachung der Beträge für den Geschäftsvorgang und für den Jahresumsatz nach § 5 Abs. 1 Nr. 11 der Mess- und Eichverordnung Vom 24. März  
125. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
126. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
127. Math Met2010 Wright  
Datum: 05.11.2010
Prozentuale Relevanz: 14 %
Math Met2010 Wright Inverse modelling for determination of thermal conductivity of layered samples 22/6/2010 L. Chapman, C. Matthews, S. Roberts, L. Wright*, X.-S. Yang NPL, UK Thursday, 24 June  
128. Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
129. X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
130. Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße  
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