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113 Treffer:
81. Roesslein Matthias MATHMET2014  
Datum: 23.01.2014
Prozentuale Relevanz: 11 %
Roesslein Matthias  
82. Seminar Abteilung 2 - Titel - Next-generation graphene quantized Hall resistance standards: Charge carrier density control, contact design, and crossover-free interconnections  
Datum: 22.10.2019
Prozentuale Relevanz: 19 %
Abstract: Major challenges in establishing next-generation graphene quantized Hall resistance standards concern the sample design and the charge carrier density control. Today’s talk will focus on  
83. Sensitive diagnostics for reaction kinetics  
Datum: 28.05.2015
Prozentuale Relevanz: 12 %
Increasingly stringent emission regulations, global warming, and depleting fossil fuelresources are driving the design of combustion systems towards extreme operatingconditions. Ultra-lean fuel  
84. Shearlets: Theory and Applications to Imaging Science and Inverse Scattering Problems  
Datum: 05.01.2016
Prozentuale Relevanz: 20 %
Kolloquium der Abteilung 8 Many important problem classes are governed by anisotropic features such as edges in images or inhomogeneities of a medium. Among various representation systems, which are  
85. Draft Chapter 2 for SI Brochure, following redefinitions of the base units.  
Datum: 15.04.2015
Prozentuale Relevanz: 2 %
This is a draft specification for the SI, prepared by the CCU, which would follow from the proposed redefinition of the kilogram, ampere, kelvin and mole to fix the values of the Planck constant h,  
86. Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer  
Datum: 02.05.2018
Prozentuale Relevanz: 5 %
Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer Polarization resolved measurements with the new EUV Ellipsometer of PTB Victor Soltwischa, Andreas Fischera, Christian Laubisa, Christian Stadelhoffa, Frank  
87. Spectroscopic Ellipsometry: Principle, Instrumentation, and Applications for Nanometrology  
Datum: 17.05.2016
Prozentuale Relevanz: 16 %
Kolloquium der Abteilung 4 Ellipsometry is an optical metrology technique that utilizes polarized light to characterize thickness of thin films and optical constants of both layered and bulk  
88. Stand-alone EUV spectrometer for the characterization of ultrathin films and nanoscale gratings  
Datum: 06.11.2020
Prozentuale Relevanz: 19 %
Kolloquium der Abteilung 7 Abstract: In this talk the implementation, measurement procedure and the data analysis of a stand-alone EUV spectrometer is presented. The setup is used to determine  
89. Stenger PRA2001  
Datum: 19.05.2010
Prozentuale Relevanz: 3 %
PHYSICAL REVIEW A, VOLUME 63, 021802 R  Phase-coherent frequency measurement of the Ca intercombination line at 657 nm with a Kerr-lens mode-locked femtosecond laser Stenger PRA2001 RAPID COMMUNICATIONS PHYSICAL REVIEW A, VOLUME 63, 021802共R兲 Phase-coherent frequency measurement of the Ca intercombination line at 657 nm with a Kerr-lens mode-locked femtosecond  
90. Superconductivity - Recent Advances - ABGESAGT!  
Datum: 17.02.2020
Prozentuale Relevanz: 23 %
Kolloquium der Abteilung 2 Das Kolloquium wird wegen der aktuellen Reiselage auf einen späteren Zeitpunkt verschoben. The colloquium will be postponed to a later date due to the current travel  
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