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71. Vorstellung des Themenbereichs Nanometrologie  
Datum: 11.03.2022
Prozentuale Relevanz: 5 %
Im Themenbereich Nanometrologie (TB Nano) arbeiten Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter der PTB aus 13 Fachbereichen abteilungsübergreifend zusammen, um die industriellen und metrologischen  
72. Vorlesung Praezisionsmesstechnik 2012  
Datum: 01.03.2016
Prozentuale Relevanz: 1 %
Vorlesung Praezisionsmesstechnik 2012 Skript (vorläufig; überarbeitete Version 23.05.2012) zur Vorlesung Elektrische Präzisionsmesstechnik (nur zur Verwendung in Zusammenhang mit der Vorlesung;  
73. Vorhersage des biologischen Effekts verschiedener Strahlenarten auf Zellen und Gewebe  
Datum: 23.11.2015
Prozentuale Relevanz: 20 %
Kolloquium der Abteilung 6 Reliable predictions and a mechanistic understanding of radiation damage induction and processing are of great importance for estimating risks and benefits of radiation,  
74. Von Hamos  
Datum: 15.02.2018
Prozentuale Relevanz: 9 %
Von Hamos Calibratable von Hamos X-ray Spectrometer Physikalisch-Technische Bundesanstalt National Metrology Institute Overview • • • • • Calibratable Broad energy range: 2.3 keV – 20  
75. Vom metrologischen „Olymp“ bis zum Crashtest  
Datum: 11.09.2002
Prozentuale Relevanz: 5 %
Internationale Konferenz über Harmonisierung von Messverfahren im Zeitalter der Globalisierung Neue Methoden und Geräte zur Messung von Kraft, Masse, Drehmoment und Härte sowie zur Überwachung von  
76. Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen  
Datum: 28.11.2022
Prozentuale Relevanz: 3 %
Kontakt Vorsitzender der VV Dr.-Ing. Prof h. c. Frank Härtig Telefon: (0531) 592-2000 E-Mail: gm(at)ptb.de Leiter der Geschäftsstelle Dr.-Ing. Sascha Mäuselein Telefon: (0531)592-9210 E-Mail:  
77. Virtuelles Transmissionselektronenmikroskop für die Nanometrologie  
Datum: 01.12.2014
Prozentuale Relevanz: 3 %
In Kooperation mit der Arbeitsgruppe von Prof. Kohl an der Universität Münster wurden TEM-Bilder dünner Querschnitte von Nano-Referenzstrukturen, eingebettet in eine Schutzschicht aus z.B. Platin,  
78. Virtuelles Modell für ein metrologisch rückgeführtes UHV-STM  
Datum: 03.05.2016
Prozentuale Relevanz: 8 %
Für die Aufrüstung eines UHV-Rastertunnelmikroskops (UHV-STM) mit einem komplexen interferometrischen Messsystem wurde ein virtuellen 3D-Modell des bestehenden Aufbaus erstellt. Für das Upgrade zum  
79. Virtual Measurement Process VMP  
Datum: 01.04.2021
Prozentuale Relevanz: 7 %
Projektzeitraum Beginn: November 2019 Ende:    Oktober 2022 Projektbeschreibung Mit dem steigenden Bedürfnis nach Durchführung von „Virtuellen Messungen“ zur  
80. VirtMet Whitepaper public  
Datum: 18.06.2019
Prozentuale Relevanz: 1 %
VirtMet Whitepaper public PTB-Kompetenzzentrum „Metrologie für virtuelle Messgeräte“ (VirtMet) Im Zuge der Digitalisierung nimmt die Bedeutung von Simulationen und in silico Experimenten rasant zu.  
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