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  • 141. Todays metrology for quantum future  
    Datum: 14.02.2023
    Prozentuale Relevanz: 22 %
    In this talk I will give a brief overview of NPL’s work aiming to support the emerging quantum industry with a few examples from diverse fields of quantum communications, software, sensors,  
  • 142. TOCHA Workshop Program final  
    Datum: 24.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    TOCHA Workshop Program final TOCHA International Workshop „Topological Matter − Applications to Metrology“ 2nd and 3rd of November 2023 Venue: Physikalisch-Technische Bundesanstalt Conference  
  • 143. TOCHA Workshop Program 2023 09 19 V2  
    Datum: 19.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    TOCHA Workshop Program 2023 09 19 V2 TOCHA-Workshop International Workshop "Topological Matter − Applications to Metrology" 2nd and 3rd of November 2023 Venue: Physikalisch-Technische  
  • 144. Time Resolved Studies of Ultrafast Phenomena in Cooperative Condensed-Matter Systems  
    Datum: 09.02.2016
    Prozentuale Relevanz: 25 %
    Kolloquium der Abteilung 2 Time resolved measurements provide a detailed insight into the dynamical properties of matter. The basic experimental concept of such measurements, the so-called pump-probe  
  • 145. Tilted-Wave Interferometer (TWI) als Beispiel für Hand-in-Hand-Kalibrierung von realem und virtuellem Experiment  
    Datum: 06.11.2020
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    Die optische Industrie setzt in modernen optischen Systemen Asphären und Freiformflächen ein, die allerdings sehr hohe Anforderungen an die Metrologie stellen. Optische Messtechniken haben dabei eine  
  • 146. Tilted-Wave Interferometer  
    Datum: 03.07.2019
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Tilted-Wave Interferometer Asphären und Freiformen sind Oberflächen, die eine signifikante Abweichung von ihrer sphärischen Grundform aufweisen. Da ihre Form sehr komplex sein kann, ist eine  
  • 147. Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm  
    Datum: 13.02.2017
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm Mikrosystemtechnik ermöglicht die Miniaturisierung bestehender aber auch die Fertigung neuartiger Systeme. Für die dimensionelle  
  • 148. THz Activities  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    THz Activities Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030) 3481-7170  
  • 149. Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106  
    Datum: 16.09.2010
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 78, 035106 共2007兲 Demagnetization of magnetically shielded rooms F. Thiel, A. Schnabel, S.  
  • 150. The Rise and fall of an Aryan Physicist  
    Datum: 15.09.2015
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    The Rise and fall of an Aryan Physicist 2 The Rise and Fall of an "Aryan" Physicist W ithout a doubt Johannes Stark is one of the most famous and infamous “Nazi" scientists. His Nobel Prize,  
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