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1458 Treffer:
131. TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 12 %
Stand: 12/1984 TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: Ersatz für: 12/84 - E 24 Herausgegeben  
132. TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 4 %
Stand: 01/1997 TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische  
133. TR-E 16: Zulassungszeichen  
Datum: 24.02.2006
Prozentuale Relevanz: 7 %
Stand: 03/1990 TR-E 16: Zulassungszeichen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: 3/90 Ersatz für: 1/79 E 16 Herausgegeben von der  
134. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
135. Todays metrology for quantum future  
Datum: 14.02.2023
Prozentuale Relevanz: 22 %
In this talk I will give a brief overview of NPL’s work aiming to support the emerging quantum industry with a few examples from diverse fields of quantum communications, software, sensors,  
136. Time Resolved Studies of Ultrafast Phenomena in Cooperative Condensed-Matter Systems  
Datum: 09.02.2016
Prozentuale Relevanz: 25 %
Kolloquium der Abteilung 2 Time resolved measurements provide a detailed insight into the dynamical properties of matter. The basic experimental concept of such measurements, the so-called pump-probe  
137. Tilted-Wave Interferometer (TWI) als Beispiel für Hand-in-Hand-Kalibrierung von realem und virtuellem Experiment  
Datum: 06.11.2020
Prozentuale Relevanz: 4 %
Die optische Industrie setzt in modernen optischen Systemen Asphären und Freiformflächen ein, die allerdings sehr hohe Anforderungen an die Metrologie stellen. Optische Messtechniken haben dabei eine  
138. Tilted-Wave Interferometer  
Datum: 03.07.2019
Prozentuale Relevanz: 3 %
Tilted-Wave Interferometer Asphären und Freiformen sind Oberflächen, die eine signifikante Abweichung von ihrer sphärischen Grundform aufweisen. Da ihre Form sehr komplex sein kann, ist eine  
139. Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm  
Datum: 13.02.2017
Prozentuale Relevanz: 2 %
Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm Mikrosystemtechnik ermöglicht die Miniaturisierung bestehender aber auch die Fertigung neuartiger Systeme. Für die dimensionelle  
140. THz Activities  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 15 %
THz Activities Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030) 3481-7170  
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