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131. TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 4 %
Stand: 01/1997 TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische  
132. TR-E 16: Zulassungszeichen  
Datum: 24.02.2006
Prozentuale Relevanz: 7 %
Stand: 03/1990 TR-E 16: Zulassungszeichen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: 3/90 Ersatz für: 1/79 E 16 Herausgegeben von der  
133. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
134. Time Resolved Studies of Ultrafast Phenomena in Cooperative Condensed-Matter Systems  
Datum: 09.02.2016
Prozentuale Relevanz: 25 %
Kolloquium der Abteilung 2 Time resolved measurements provide a detailed insight into the dynamical properties of matter. The basic experimental concept of such measurements, the so-called pump-probe  
135. Tilted-Wave Interferometer (TWI) als Beispiel für Hand-in-Hand-Kalibrierung von realem und virtuellem Experiment  
Datum: 06.11.2020
Prozentuale Relevanz: 4 %
Die optische Industrie setzt in modernen optischen Systemen Asphären und Freiformflächen ein, die allerdings sehr hohe Anforderungen an die Metrologie stellen. Optische Messtechniken haben dabei eine  
136. Tilted-Wave Interferometer  
Datum: 03.07.2019
Prozentuale Relevanz: 3 %
Tilted-Wave Interferometer Asphären und Freiformen sind Oberflächen, die eine signifikante Abweichung von ihrer sphärischen Grundform aufweisen. Da ihre Form sehr komplex sein kann, ist eine  
137. Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm  
Datum: 13.02.2017
Prozentuale Relevanz: 2 %
Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm Mikrosystemtechnik ermöglicht die Miniaturisierung bestehender aber auch die Fertigung neuartiger Systeme. Für die dimensionelle  
138. THz Activities  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 15 %
THz Activities Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030) 3481-7170  
139. Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106  
Datum: 16.09.2010
Prozentuale Relevanz: 1 %
Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 78, 035106 共2007兲 Demagnetization of magnetically shielded rooms F. Thiel, A. Schnabel, S.  
140. The Rise and fall of an Aryan Physicist  
Datum: 15.09.2015
Prozentuale Relevanz: 1 %
The Rise and fall of an Aryan Physicist 2 The Rise and Fall of an "Aryan" Physicist W ithout a doubt Johannes Stark is one of the most famous and infamous “Nazi" scientists. His Nobel Prize,  
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