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1447 Treffer:
  • 201. 4 1 Kuehne Units for the Universe  
    Datum: 11.04.2012
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    The meter convention and its role in the 21st century Helmholtz-Symposium, Tuesday, March 27, 2012 4 1 Kuehne Units for the Universe Bureau International des Poids et Mesures Units for the  
  • 202. 4 2 Ullrich Next 125 years  
    Datum: 11.04.2012
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Closing remarks: The next 125 years Helmholtz-Symposium, Tuesday, March 27, 2012 4 2 Ullrich Next 125 years Metrology: …the next 125 years! Metrology: …the next years -1- Metrology: …the next 125  
  • 203. 4 3 Sturm QED in strong fields  
    Datum: 19.04.2012
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    The most stringent test of QED in strong fields: The g-factor of 28Si13+ 4 3 Sturm QED in strong fields The most stringent test of QED in strong fields: The g-factor of 28Si13+ Sven Sturm, Anke  
  • 204. Abteilungsbericht 2019 – Optik  
    Datum: 15.04.2020
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    Abteilungsbericht 2019 – Optik Abteilungsbericht 2019 – Optik Physikalisch-Technische Bundesanstalt Nationales Metrologieinstitut Abteilung 4 Optik Abteilungsbericht 2019 Institute for Experimental  
  • 205. 4 Kuehn  
    Datum: 29.11.2016
    Prozentuale Relevanz: 8 %
    4 Kuehn der Eichaufsichtsbehörden der Bundesländer Informationen aus der AGME Prof. Dr. Olaf Kühn Vollversammlung Mess- und Eichwesen, Braunschweig, 24. November 2016 Gliederung • Neuaufstellung  
  • 206. 4 Toebben  
    Datum: 03.12.2013
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    4 Toebben Eichrechtliche Anforderungen an Smart Meter Gateways - PTB-A 50.8 Dr. Helmut Többen Physikalisch-Technische Bundesanstalt VV des Eichwesens, PTB-A 50.8, 27. Nov. 2013 - 1 - Smart  
  • 207. 4 Weberpals  
    Datum: 10.12.2014
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    4 Weberpals Arbeitsgemeinschaft Mess- und Eichwesen Neuregelung des Gesetzlichen Messwesens aus Sicht der Landeseichbehörden 10.12.2014 PTB-Vollversammlung 1 Arbeitsgemeinschaft Mess- und  
  • 208. 5.1 Oberflächenmesstechnik  
    Datum: 15.04.2024
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Aufgaben Der Fachbereich Oberflächenmesstechnik betreibt industrienahe Forschung und Entwicklung zu taktilen und optischen Oberflächentexturmessverfahren mit dem Ziel, zukünftig auch optische  
  • 209. 5.24 Elektronenmikroskopie  
    Datum: 05.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 64 %
    Die Arbeitsgruppe 5.24 beschäftigt sich mit elektronenmikroskopischen Messverfahren und deren Anwendung, insbesondere im Bereich der dimensionellen Nanometrologie. Rückgeführte Messung der  
  • 210. 5.24 Elektronenmikroskopie  
    Datum: 05.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 75 %
    5.24 Elektronenmikroskopie Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee 100 38116 Braunschweig tobias.klein@ptb.de (0531) 592-5240  
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