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121. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
122. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 14 %
Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
123. Math Met2010 Wright  
Datum: 05.11.2010
Prozentuale Relevanz: 13 %
Math Met2010 Wright Inverse modelling for determination of thermal conductivity of layered samples 22/6/2010 L. Chapman, C. Matthews, S. Roberts, L. Wright*, X.-S. Yang NPL, UK Thursday, 24 June  
124. The KATRIN neutrino mass experiment: a new challenge for precision high voltage at the ppm level  
Datum: 05.11.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Kolloquium der Abteilung 2 The KATRIN (KArlsruhe TRitium Neutrino-) experiment located at the Karlsruher Institute of Technology (KIT) is measuring the endpoint region of the tritium-β-decay spectrum  
125. The KATRIN neutrino mass experiment: a new challenge for precision high voltage at the ppm level  
Datum: 08.11.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Kolloquium der Abteilung 2 The KATRIN (KArlsruhe TRitium Neutrino-) experiment located at the Karlsruher Institute of Technology (KIT) is measuring the endpoint region of the tritium-β-decay spectrum  
126. The first industrial THz application: a THz-based Paint Layer Analyzer  
Datum: 10.05.2019
Prozentuale Relevanz: 13 %
Kolloquium der Abteilung 7 In this seminar I will give an overview of the industrial development of THz spectroscopy at ABB from scouting studies to the development of a THz-based paint analyzer for  
127. Neuentwicklung eines modularen Monte Carlo Simulationsprogrammes  
Datum: 29.03.2016
Prozentuale Relevanz: 13 %
Neuentwicklung eines modularen Monte Carlo Simulationsprogrammes Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee  
128. Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
129. X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
130. Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 13 %
Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße  
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