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  • 141. Quantitative Analyse mittels STEM  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Quantitative Analyse mittels STEM Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee 100 38116 Braunschweig tobias.klein@ptb.de (0531) 592-5240  
  • 142. Messungen an Querschnitten  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Messungen an Querschnitten Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 143. Laufende Projekte  
    Datum: 05.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Laufende Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 144. Abgeschlossene Projekte  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Abgeschlossene Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 145. Apparative Ausstattung  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Apparative Ausstattung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 146. Preise für junge Wissenschaftlerinnen  
    Datum: 25.09.2014
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Dr. Beatrix Pollakowski aus der Arbeitsgruppe 7.24 Röntgen- und IR-Spektrometrie hat den diesjährigen Young post-doc Award in X-ray Spectrometry der European X-ray Spectrometry Association (EXSA)  
  • 147. Publikationen  
    Datum: 29.01.2018
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Bitte nutzen Sie unsere Datenbank für Publikationen ( PTB-Publica). Einen Überblick über die Publikationen finden Sie im Dokument " AG112-Publikationen". Vorträge Vortrag zu Revision  
  • 148. Sie haben ein messtechnisches Problem und suchen eine Lösung  
    Datum: 12.04.2024
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Bitte ordnen Sie ihr messtechnisches Problem einem der unten aufgeführten Oberflächenmessverfahren zu und sprechen dann die dort aufgeführte Arbeitsgruppe an. Im Folgenden sind die in der PTB  
  • 149. FPM Seminar  
    Datum: 16.04.2024
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Das Institutsseminar findet dienstags um 16:00 Uhr im Seminarraum des Raumzellenbaus 8 statt. 2019 Datum Sprecher Titel 17.12.2019 Maximilian Reichert One-electron atom in curved spacetime and  
  • 150. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 13 %
    Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
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