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1348 Treffer:
  • 81. Tag der Ausbildung  
    Datum: 24.08.2019
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    Die PTB veranstaltet am 24. August 2019 einen "Tag der Ausbildung". Alle Ausbildungsberufe der PTB werden an diesem Tag von Ausbildern und Auszubildenden vorgestellt. Jens  
  • 82. Ehrenmitgliedschaft am Ioffe-Institut St. Petersburg  
    Datum: 06.02.2020
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    Das Ioffe-Institut der Russischen Akademie der Wissenschaften in St. Petersburg hat Prof. Dr. Mathias Richter, Leiter der Abteilung 7 der PTB zum Ehrenmitglied ernannt. Diese Ehrung wird seit  
  • 83. vortrag2  
    Datum: 16.05.2011
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    vortrag2 Überprüfung der MID: Diskutierte Änderungen und Erweiterungen Dr. Peter Ulbig Fachbereich Q.3: Gesetzl. Messwesen und Technologie Transfer 1 P. Ulbig – PTB – Fachbereich Q.3 2010-11-24  
  • 84. Neue Prüfregeln für Meßgeräte für den Kohlenstoffdioxidanteil in Brenngasen  
    Datum: 06.11.1998
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    Meßgeräte für den Kohlenstoffdioxidanteil in Brenngasen dienen in Verbindung mit Mengenumwertern zur Bestimmung der Kompressibilitätszahl von Brenngasen nach PTB-anerkannten Verfahren. Mit der  
  • 85. LEM  
    Datum: 28.08.2023
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    Hash-Code (RIPEMD-160, ab 2019 SHA-256) Datum 0b0fe37c97d75e10a1f58476ef29d64c222ed6f28a34b28b3a3b67c540af1e9a 24.08.2023 7f0c84d8c69913392a821be91fc638bc46177ac96f2fe12d05bff03a4a781121  
  • 86. High resolution wavelength-dispersive X-Ray Fluorescence Analysis (RFA)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    High resolution wavelength-dispersive X-Ray Fluorescence Analysis (RFA) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße  
  • 87. Transmissionsmodus im REM (TSEM, STEM-in-SEM)  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    Transmissionsmodus im REM (TSEM, STEM-in-SEM) Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 88. Scattering Type Scanning Near-field Optical Microscopy and Nano-FTIR Spectroscopy  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    Scattering Type Scanning Near-field Optical Microscopy and Nano-FTIR Spectroscopy Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße  
  • 89. Machine Learning im Kontext der Elektronenmikroskopie  
    Datum: 05.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    Machine Learning im Kontext der Elektronenmikroskopie Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531)  
  • 90. Kapitel 9: Inhaltsverzeichnis  
    Datum: 24.08.2011
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    Kapitel 9: Inhaltsverzeichnis Inhaltsverzeichnis von Kapitel 9 9 Allgemeines über Messungen und ihre Auswertung Redakteur: S. German Hierzu Tabellen T 9.01 bis T 9.13 im  
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