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11. 00 EMC Poster timeline  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 5 %
00 EMC Poster timeline The Metrology Cloud: Roadmap Martin Nischwitz, Jan Wetzlich, Maxmimlian Dohlus, Artem Yurchenko The Art of Development Extern Demonstrators Concepts Reference  
12. 01-fisicaro-metrologyinchemistry  
Datum: 07.05.2009
Prozentuale Relevanz: 6 %
01-fisicaro-metrologyinchemistry Laboratoire national de métrologie et d’essais 9-10 April, 2008 Euramet 924 Meeting 1 An introduction to Metrology in Chemistry Paola Fisicaro Inorganic  
13. 01 EMC Poster Authentification  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 6 %
01 EMC Poster Authentification The Metrology Cloud: Easy Authentification Artem Yurchenko, Max Dohlus IDEA - Identification Device Easy Access/Authentification for IDEA ❖ ❖ ❖ ❖ Secure storage of  
14. 01 EMC Poster Digital Representation  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 6 %
01 EMC Poster Digital Representation The Metrology Cloud: The Digital Representation Maximilian Dohlus, Artem Yurchenko Why Metrology Cloud? ❖ Increase process efficiency by digitization ❖ Remove  
15. 01 EMC Poster MC on a Table  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 4 %
01 EMC Poster MC on a Table The Metrology Cloud: MCoaS/T Jan Wetzlich, Martin Nischwitz, Artem Yurchenkow, Maximilian Dohlus MCoaT – Metrology Cloud on a  
16. 01 EMC Poster Networking  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 40 %
01 EMC Poster Networking The Metrology Network – Now and Then Measuring Infrastructure NOW Current State ❖ You have to know where an information is stored, who to ask about it and how to get it ❖  
17. 01 EMC Poster Node Architecture  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 5 %
01 EMC Poster Node Architecture The Metrology Cloud: Node Architecture Artem Yurchenko, Martin Nischwitz, Maximilian Dohlus, Jan Wetzlich Requirements ❖ ❖ ❖ ❖ Maximize data control: all data will  
18. 01 EMC Poster Prolog  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 4 %
01 EMC Poster Prolog The Metrology Cloud: Prolog Jan Wetzlich, Martin Nischwitz, Artem Yurchenkow, Maximilian Dohlus Legal metrology (LM) involves numerous stakeholders which frequently exchange  
19. 01 EMC Poster Trust  
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 6 %
01 EMC Poster Trust The Metrology Cloud: Trust Jan Wetzlich, Martin Nischwitz Data Security and Public Key Infrastructure ❖ Smart contracts Usage Public Key Infrastructure ❖ Distributed ledgers  
20. 01 Kublay Dynamische Stroemungsuntersuchung 2015-02-17  
Datum: 12.03.2015
Prozentuale Relevanz: 3 %
01 Kublay Dynamische Stroemungsuntersuchung 2015-02-17 Dynamische Strömungsuntersuchung Untersuchung des Messverhaltens von Durchflussmessgeräten 1.53 Erkan Kublay 17.02.2015 Curriculum Vitae Zur  
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