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  • 61. Quantitative Analyse mittels STEM  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Quantitative Analyse mittels STEM Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee 100 38116 Braunschweig tobias.klein@ptb.de (0531) 592-5240  
  • 62. Messungen an Querschnitten  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Messungen an Querschnitten Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 63. Laufende Projekte  
    Datum: 05.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Laufende Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 64. Abgeschlossene Projekte  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Abgeschlossene Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 65. Apparative Ausstattung  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Apparative Ausstattung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 66. Preise für junge Wissenschaftlerinnen  
    Datum: 25.09.2014
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Dr. Beatrix Pollakowski aus der Arbeitsgruppe 7.24 Röntgen- und IR-Spektrometrie hat den diesjährigen Young post-doc Award in X-ray Spectrometry der European X-ray Spectrometry Association (EXSA)  
  • 67. Publikationen  
    Datum: 29.01.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Bitte nutzen Sie unsere Datenbank für Publikationen ( PTB-Publica). Einen Überblick über die Publikationen finden Sie im Dokument " AG112-Publikationen". Vorträge Vortrag zu Revision  
  • 68. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 69. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 70. Simulation der Bildentstehung  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Simulation der Bildentstehung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
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