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Creation date: 2024-04-24
Creation time: 01-35-39
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18
report
J1998
Ist Silicium zur Neudefinition des Kilogramms geeignet?
1998
PTB-APh-34
108 S., 63 Abbildungen, 14 Tabellen
Im Mittelpunkt dieser Arbeit stehen Untersuchungen bezüglich der Reinheit und Homogenität zweier spezieller Kristalle. Dazu wurden IR-Absorptionsmessungen, Positronen-Lebensdauermessungen und Dichte-Vergleichsmessungen eingesetzt.
PTB-APh-
DM 34,50
ISBN 3-89701-239-1
J.Martin
report
KJ1990
40 Jahre elektronenoptische Forschung in der PTB Teil I: Aus der Geschichte des Laboratoriums für Elektro-nenoptik. Teil II: Kurzberichte aus den PTB-Mitteilungen, Veröffent-lichungs- und Vortragslisten
1990
PTB-APh-33
168 S., 56 Abbildungen, Teil 1+2
kein Abstract
PTB-APh-
DM 50,50
ISBN 3-89429-015-3
K-J.Hanßen
report
DG1990
Elektronisches Autokollimationsfernrohr zur Winkelmessung im Nanorad-Bereich
1990
PTB-APh-32
38 S., 23 Abbildungen
Es wird ein neu entwickeltes Autokollimationsfernrohr beschrieben, das zur Winkelmessung in einem Bereich von +-80 mikrorad eingesetzt wird. Zusammen mit einer elektronischen Steuerein-richtung werden Winkeländerungen bis hinab zu 1 mikrorad als entsprechender Anderungen elektronischer Spannungen nachgewiesen.
PTB-APh-
DM 17,50
ISBN 3-88314-993-4
D.Windisch
G.Ebeling
report
G1988
Der Einfluß der teilkohärenten Beleuchtung bei der Aufnahme von off-axis-Bildebenenhologrammen auf das rekonstruierte Bild
1988
PTB-APh-18
42 S., 5 Abbildungen
Bildebenen-Holographiemit Amplitudeneinteilung und Wellenfrontteilung bei kohätrenter und spatial teilkohärenter Beleuchtung - Einfluß der chromatischen Teilkohärenz - Spezialisierung der Ergebnisse.
PTB-APh-
DM 16,50
G.Ade
report
RG1987
Einfluß der Längenausdehnung des Brennflecks auf den Kontrast von Bisprisma-Interferenzen im außeraxialen Bereich. Zur Bestimmung von Rauschspektren belichteter Photoplatten
1987
PTB-APh-31
28 S., 11 Abbildungen
Die theoretischen Grundlagen beider Verfahren werden dargestellt und durch Messungen experimentell belegt.
PTB-APh-
DM 15,50
ISBN 3-88314-756-7
R.Lauer
G.Ade
report
G1986
Die Amplituden- und Phasenverteilungen von Eletronenwellen an der Rückseite von Einkristallen nach der dynamischen Theorie - Beitrag zur holographischen Phasenbestimmung
1986
PTB-APh-26
50 S., 11 Abbildungen
Untersuchungen über dynamische Beugungserscheinungen an Kristallen befassen sich meist nur mit den Intensitätsverteilungen der aus dem Kristall austretenden Wellen und enthalten oft nur unvollständige Angaben über die zugehörigen Wellenfunktionen und Phasenverteilungen. Dieser Bericht stellt die dynamische Beugungstheorie geschlossen dar und ermöglichst damit die Angabe vollständiger Ausdrücke für die gesuchten Wellenfunktionen.
PTB-APh-
DM 18,50
G.Ade
report
KJRG1986
Prospective trends in electron holography. Influence of the noise on reconstructions of off-axis holograms and dynamical phase effects in perfect crystals
1986
PTB-APh-30
54 S., 35 Abbildungen
Collected papers, presented at the International Symposium on Electron Optics in Beijing, China, 1986 and at the 11th International Congress on Electron Microscopy in Kyoto, Japan, 1986.
PTB-APh-
DM19,50
ISBN 3-88314-612-9
K.-J.Hanßen
R.Lauer
G.Ade
report
KJ1986
Wandel des Physikverständnisses und der physikalischen Arbeitsmethoden im Laufe meines Berufslebens
1986
PTB-APh-29
48 S., 16 Abbildungen
Kein Abstract
PTB-APh-
DM 18,50
K.-J.Hanßen
report
RKG1985
Analyse des interferometrischen Verfahrens zur Messung des Richtstrahlwerts von Elektronenkanonen
1985
PTB-APh-24
74 S., 20 Abbildungen
Berechnung des Richtstrahlwerts - Radius des effektiven Brennflecks - Rückschlüsse von der Strahlquelle auf die Streifenmodulation - Rückschlüsse von der Modulation auf die Strahlquelle - Abhängigkeit des Streifenabstandes von der Brenn-flecklage - Möglicher Einfluß der Linsenfehler - Diskussion der Meßergebnisse.
PTB-APh-
DM 22,50
R.Lauer
K.-J.Hanßen
G.Ade
report
KJRG1985
Beiträge zur Nachverarbeitung elektronenmikroskopischer Aufnahmen und zur Elektronenholographie
1985
PTB-APh-25
60 S., 40 Abbildungen
Das Elektronenmikroskop als Filter - Bildverbesserung durch lichtoptische oder computergestützte Nachverarbeitung elektro-nenmikroskopischer Aufnahmen sowie durch Hohlkegelbeleuch-tung - Informationsgewinn durch Elektronenholographie
PTB-APh-
DM 20,50
K.-J.Hanßen
R.Lauer
G.Ade
report
HP1984
Bestimmung der Form der Elementarzelle eines hochreinen Silicium-Einkristalls durch genaue Messungen von Netzebenenabständen
1984
PTB-APh-21
40 S., 8 Abbildungen
Formdaten der Elementarzelle eines Silicium-Einkristalls - Verfahren des Präzisionsvergleiches von Netzebenenabständen - Meßergebnisse - Herstellung der Meßproben-Ermittlung der Verzerrungsparameter.
PTB-APh-
DM 16,50
H.Siegert
P.Becker
report
KJGR1984
Image Properties and Noise in Electron Holography
1984
PTB-APh-23
38 S., 26 Abbildungen
Phase-contrast imaging surpassing the background noise in holographic reconstruction of weak objects. Image properties and noise in electron Fourier holography and off-axis holography.
PTB-APh-
DM 14,50
K.-J.Hanßen
G.Ade
R.Lauer
report
KJG1984
Übertragungs- und transporttheoretische Aussagen über Phasenkontrastbildung bei partiell kohärenter Beleuchtung
1984
PTB-APh-22
36 S., 1 Abbildung
Kontrastübertragungstheorie bei kohärenter und partiell kohärenter Beleuchtung. Interpretation der in schwach defokussierten Bildern enthaltenen Phaseninformation. Gültigkeit der Transportgleichung für die Intensität bei kohärenter und partiell kohärenter Beleuchtung. Lösung der Wellengleichung. Herleitung der Transportgleichung aus der Intensitätsverteilung in einer defo-kussierten Ebene.
PTB-APh-
DM 14,50
K.J.Hanßen
G.Ade
report
KJRG1983
Recent Investigations in Electron Holography and Electron Transfer Theory
1983
PTB-APh-20
42 S., 25 Abbildungen
Investigations of the noise in off-axis holography - Com-pensation of aberrations in electron Fourier-holography - Choice of the scattering foil and the limitation of resolution in Fourier-holography - The effect of non-isoplanatism in micrographs taken with an electron microscope equipped with a field emission gun.
PTB-APh-
DM 16,50
K.-J.Hanßen
R.Lauer
G.Ade
report
KJ1982
Anwendungen und Grenzen der elektronenmikroskopischen Holographie, unter besonderer Berücksichtigung der Rauscheinflüsse, die von Objektträgerfolie und Hologrammplatte ausgehen
1982
PTB-APh-17
40 S., 10 Abbildungen
Untergrundrauschen in holographischen Rekonstruktionen - Problem der Phasenkontrastabbildung in der elektronenmikros-kopischen Holographie - Beispiel einer Phasenkontrast-Rekonstruktion in der Fraunhofer-Holographie unter Verwendung der Zernikeplatte - Interferenzmikroskopische Auswertung von Hologrammen, Zusammenhang zwischen Hellfeld, Dunkelfeld und Phasenkontrast - Bedeutung der Holographie in der Elektronenmikroskopie - Exkurs über Fourier-Holographie-Einfluß der statistischen Schwärzungsunterschiede der Hologrammplatte auf die holographische Rekonstruktion.
PTB-APh-
DM 16,50
K.-J.Hanßen
report
KHRG1982
Recent Developments in Electron Microscopical Holography
1982
PTB-APh-19
44 S., 26 Abbildungen
Phase contrast improvement in interferometric holographic reconstructions by operating under nearly dark field conditions - Holography employing a coherent quasi-cylindrical illumination wave - Electron Fourier holography, reconstruction conditions and resolution - Holography by electron radiation.
PTB-APh-
DM 16,50
K.-H.Hanßen
R.Lauer
G.Ade
report
KJRG1981
Elektronenmikroskopische Holographie
1981
PTB-APh-16
38 S., 27 Abbildungen
Holographische Verfahren in der Elektronenmikroskopie, ihre derzeitigen Möglichkeiten und Anwendungsgrenzen - Elektro-nenholographie ohne Biprisma - Holographischer Nachweis der dynamischen Phaseneffekte an einem Stapelfehler in Silicium.
PTB-APh-
DM 14,50
K.J.Hanßen
R.Lauer
G.Ade
report
KJRG1980
Discussions on the Possibilities and Limitations of in-line and off-axis Holography in Electron Microscopy
1980
PTB-APh-15
80 S., 36 Abbildungen
Experience and results obtained in electron microscopical holography by using a reference beam in the light optical reconstruction step - Amplitude and phase determination in holography - Holographic phase determination of strong objects - Construction of the complex object function in electron microscopy by Fraunhofer in-line holography.
PTB-APh-
DM 24,50
K.-J.Hanßen
R.Lauer
G.Ade