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  • 51. Determination of atomic fundamental parameters  
    Date: 02.10.2018
    Percental score: 14 %
    Determination of atomic fundamental parameters Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 52. Research Items  
    Date: 25.09.2023
    Percental score: 14 %
    Research Items Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 53. Messungen an Querschnitten  
    Date: 25.09.2023
    Percental score: 14 %
    Messungen an Querschnitten Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 54. Laufende Projekte  
    Date: 05.10.2023
    Percental score: 14 %
    Laufende Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 55. Abgeschlossene Projekte  
    Date: 25.09.2023
    Percental score: 14 %
    Abgeschlossene Projekte Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 56. Apparative Ausstattung  
    Date: 25.09.2023
    Percental score: 14 %
    Apparative Ausstattung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 57. Modular Monte Carlo simulation program  
    Date: 25.09.2023
    Percental score: 13 %
    Modular Monte Carlo simulation program Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee 100 38116 Braunschweig tobias.klein@ptb.de (0531) 592-5240  
  • 58. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
    Date: 02.10.2018
    Percental score: 13 %
    Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 59. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
    Date: 02.10.2018
    Percental score: 13 %
    Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 60. Workshop "The Quantum Revolution in Metrology"  
    Date: 28.11.2017
    Percental score: 13 %
    The revised International System of Units, the SI, will rest on seven defining constants. To realize the SI units based on the defining constants, methods of quantum metrology will be used in many  
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