An der PTB wurde eine auf Deflektometrie basierende Messanlage entwickelt, welche die hochgenaue Bestimmung der Topographie von bis 500 mm großen planen und schwach gekrümmten optischen Flächen mit Messunsicherheiten von unter einem Nanometer ermöglicht [1, 2]. Hierfür wurden auch neue Verfahren zur automatisierten und genauen Pentaprismen-Justage entwickelt [3, 4].
Das sogenannte Extended Shear...
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