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Artikel
Titel: | Development of a metrological reference system for the form measurement of aspheres and freeform surfaces based on a tilted-wave interferometer |
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Autor(en): | I. Fortmeier, M. Stavridis, M. Schulz and C. Elster |
Journal: | Measurement Science and Technology |
Jahr: | 2022 |
Band: | 33 |
Ausgabe: | 4 |
Zustand: | akzeptiert |
DOI: | 10.1088/1361-6501/ac47bd |
Marker: | 8.4,8.42,Form |