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Mathematische Modellierung und Datenanalyse

Fachbereich 8.4

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Artikel

Titel: Development of a metrological reference system for the form measurement of aspheres and freeform surfaces based on a tilted-wave interferometer
Autor(en): I. Fortmeier, M. Stavridis, M. Schulz and C. Elster
Journal: Measurement Science and Technology
Jahr: 2022
Band: 33
Ausgabe: 4
Zustand: akzeptiert
DOI: 10.1088/1361-6501/ac47bd
Marker: 8.4,8.42,Form

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