Publikations Einzelansicht
Artikel
Titel: | Deep learning for tilted-wave interferometry |
---|---|
Autor(en): | L. Hoffmann, I. Fortmeier and C. Elster |
Journal: | tm - Technisches Messen |
Jahr: | 2021 |
DOI: | 10.1515/teme-2021-0103 |
Schlüsselwörter: | publiziert |
Marker: | 8.4,8.42,Form,ML |