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Artikel
Titel: | Application of Bayesian model averaging to the determination of thermal expansion of single-crystal silicon |
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Autor(en): | J. Martin, G. Bartl and C. Elster |
Journal: | Measurement Science and Technology |
Jahr: | 2019 |
Band: | 30 |
Seite(n): | 045012 |
DOI: | 10.1088/1361-6501/ab094b |
Marker: | 8.4,8.42,Unsicherheit,Regression |