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Modellierung und Simulation

Arbeitsgruppe 8.41

Publikationen 8.41

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Beitrag zu Sammlung

Titel: Charakterisierung von Nanostrukturen aund Substraten der Halbleiterindustrie
Autor(en): B. Bodermann, J. Flügge and H. Groß
Jahr: 2011
Buchtitel: PTB-Mitteilungen 2/2011 "Themenschwerpunkt Nanometrologie"
Schlüsselwörter: 8.41,Nanometrology
Marker: 8.41, Scatter-Inv

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