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121. TR-K 7.1: Richtlinie für die Eichung von Wärmezählern und Teilgeräten  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 2 %
Stand: 11/2006 TR-K 7.1: Richtlinie für die Eichung von Wärmezählern und Teilgeräten Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Ausgabe: 11/06 Ersatz für: TR-K  
122. TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 15 %
Stand: 12/1984 TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: Ersatz für: 12/84 - E 24 Herausgegeben  
123. TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung  
Datum: 20.05.2015
Prozentuale Relevanz: 5 %
Stand: 01/1997 TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische  
124. TR-E 16: Zulassungszeichen  
Datum: 24.02.2006
Prozentuale Relevanz: 9 %
Stand: 03/1990 TR-E 16: Zulassungszeichen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: 3/90 Ersatz für: 1/79 E 16 Herausgegeben von der  
125. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 16 %
Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
126. Tilted-Wave Interferometer (TWI) als Beispiel für Hand-in-Hand-Kalibrierung von realem und virtuellem Experiment  
Datum: 06.11.2020
Prozentuale Relevanz: 5 %
Die optische Industrie setzt in modernen optischen Systemen Asphären und Freiformflächen ein, die allerdings sehr hohe Anforderungen an die Metrologie stellen. Optische Messtechniken haben dabei eine  
127. Tilted-Wave Interferometer  
Datum: 03.07.2019
Prozentuale Relevanz: 3 %
Tilted-Wave Interferometer Asphären und Freiformen sind Oberflächen, die eine signifikante Abweichung von ihrer sphärischen Grundform aufweisen. Da ihre Form sehr komplex sein kann, ist eine  
128. Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm  
Datum: 13.02.2017
Prozentuale Relevanz: 3 %
Tiefen-Einstellnormale für Messbereiche von 1 µm bis 5 mm Mikrosystemtechnik ermöglicht die Miniaturisierung bestehender aber auch die Fertigung neuartiger Systeme. Für die dimensionelle  
129. THz Activities  
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 18 %
THz Activities Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030) 3481-7170  
130. Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106  
Datum: 16.09.2010
Prozentuale Relevanz: 2 %
Thiel et al 2007 Demagnetization Rev Sci Instrum 78 035106 REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS 78, 035106 共2007兲 Demagnetization of magnetically shielded rooms F. Thiel, A. Schnabel, S.  
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