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71. Simulation der Bildentstehung
Datum: 25.09.2023
Prozentuale Relevanz: 17 %

Simulation der Bildentstehung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205
72. Größenmessung von Nanopartikeln
Datum: 27.09.2023
Prozentuale Relevanz: 17 %

Größenmessung von Nanopartikeln Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205
73. Ausstattung zur Probenpräparation
Datum: 27.09.2023
Prozentuale Relevanz: 17 %

Ausstattung zur Probenpräparation Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205
74. Vorteile des Transmissionsmodes
Datum: 25.09.2023
Prozentuale Relevanz: 17 %

Vorteile des Transmissionsmodes Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205
75. Math Met2010 Wright
Datum: 05.11.2010
Prozentuale Relevanz: 16 %

Math Met2010 Wright Inverse modelling for determination of thermal conductivity of layered samples 22/6/2010 L. Chapman, C. Matthews, S. Roberts, L. Wright*, X.-S. Yang NPL, UK Thursday, 24 June
76. Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF)
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 16 %

Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)
77. X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS)
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 16 %

X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)
78. Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy
Datum: 02.10.2018
Prozentuale Relevanz: 16 %

Farfield Fourier Transform Infrared (FTIR)-Microspectroscopy Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße
79. Transmissionsmodus im REM (TSEM, STEM-in-SEM)
Datum: 25.09.2023
Prozentuale Relevanz: 16 %

Transmissionsmodus im REM (TSEM, STEM-in-SEM) Dr. Tobias Klein Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie Bundesallee 100 38116 Braunschweig tobias.klein@ptb.de (0531)
80. Quantitative Analyse mittels STEM
Datum: 25.09.2023
Prozentuale Relevanz: 16 %

Quantitative Analyse mittels STEM Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205

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