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  • 71. Bestimmung des Auflösungsvermögens eines Tracers für die Magnetpartikelbildgebung mit Hilfe der Magnetpartikelspektroskopie  
    Datum: 18.07.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Die Magnetpartikel-Bildgebung (MPI) ist ein bildgebendes Verfahren zur Quantifizierung der dreidimensionalen Verteilung von magnetischen Nanopartikeln (MNP). Die Magnetpartikelspektroskopie (MPS)  
  • 72. Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Grazing incidence X-Ray Fluorescence (GIXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 73. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 74. Simulation der Bildentstehung  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Simulation der Bildentstehung Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 75. Größenmessung von Nanopartikeln  
    Datum: 27.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Größenmessung von Nanopartikeln Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 76. Ausstattung zur Probenpräparation  
    Datum: 27.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Ausstattung zur Probenpräparation Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 77. Vorteile des Transmissionsmodes  
    Datum: 25.09.2023
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Vorteile des Transmissionsmodes Iris Weidner Physikalisch-Technische Bundesanstalt 5.24 Elektronenmikroskopie 38116 Braunschweig iris.weidner@ptb.de (0531) 592-5201 (0531) 592-5205  
  • 78. Math Met2010 Wright  
    Datum: 05.11.2010
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Math Met2010 Wright Inverse modelling for determination of thermal conductivity of layered samples 22/6/2010 L. Chapman, C. Matthews, S. Roberts, L. Wright*, X.-S. Yang NPL, UK Thursday, 24 June  
  • 79. Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    Reference-free X-Ray Fluorescence analysis (XRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 80. X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 16 %
    X-ray absorption fine structure spectroscopy (XAFS) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
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