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  • 121. TR-K 19: Befundprüfungen durch Eichbehörden oder staatlich anerkannte Prüfstellen  
    Datum: 20.05.2015
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Stand: 11/2008 TR-K 19: Befundprüfungen durch Eichbehörden oder staatlich anerkannte Prüfstellen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Ausgabe: 11/08 Ersatz  
  • 122. TR-K 16: Zulassungszeichen  
    Datum: 20.05.2015
    Prozentuale Relevanz: 5 %
    Stand: 11/2006 TR-K 16: Zulassungszeichen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Ausgabe: 11/06 Ersatz für: 05/98 Messgeräte für Wärme K 16 Herausgegeben von der  
  • 123. TR-K 7.1: Richtlinie für die Eichung von Wärmezählern und Teilgeräten  
    Datum: 20.05.2015
    Prozentuale Relevanz: 2 %
    Stand: 11/2006 TR-K 7.1: Richtlinie für die Eichung von Wärmezählern und Teilgeräten Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Ausgabe: 11/06 Ersatz für: TR-K  
  • 124. TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente  
    Datum: 20.05.2015
    Prozentuale Relevanz: 15 %
    Stand: 12/1984 TR-E 24: Anforderungen an Normalelemente Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: Ersatz für: 12/84 - E 24 Herausgegeben  
  • 125. TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung  
    Datum: 20.05.2015
    Prozentuale Relevanz: 5 %
    Stand: 01/1997 TR-E 17: Stichprobenprüfungen von Elektrizitätszählern mit Induktionsmesswerk zur Verlängerung der Gültigkeitsdauer der Eichung Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische  
  • 126. TR-E 16: Zulassungszeichen  
    Datum: 24.02.2006
    Prozentuale Relevanz: 9 %
    Stand: 03/1990 TR-E 16: Zulassungszeichen Physikalisch Technische Bundesanstalt Technische Richtlinien Messgeräte für Elektrizität Ausgabe: 3/90 Ersatz für: 1/79 E 16 Herausgegeben von der  
  • 127. Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF)  
    Datum: 02.10.2018
    Prozentuale Relevanz: 17 %
    Total reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Dr. Burkhard Beckhoff Physikalisch-Technische Bundesanstalt 7.24 Röntgenspektrometrie Abbestraße 2–12 10587 Berlin burkhard.beckhoff@ptb.de (030)  
  • 128. TOCHA Workshop Program final  
    Datum: 24.10.2023
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    TOCHA Workshop Program final TOCHA International Workshop „Topological Matter − Applications to Metrology“ 2nd and 3rd of November 2023 Venue: Physikalisch-Technische Bundesanstalt Conference  
  • 129. Tilted-Wave Interferometer (TWI) als Beispiel für Hand-in-Hand-Kalibrierung von realem und virtuellem Experiment  
    Datum: 06.11.2020
    Prozentuale Relevanz: 5 %
    Die optische Industrie setzt in modernen optischen Systemen Asphären und Freiformflächen ein, die allerdings sehr hohe Anforderungen an die Metrologie stellen. Optische Messtechniken haben dabei eine  
  • 130. Tilted-Wave Interferometer  
    Datum: 03.07.2019
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Tilted-Wave Interferometer Asphären und Freiformen sind Oberflächen, die eine signifikante Abweichung von ihrer sphärischen Grundform aufweisen. Da ihre Form sehr komplex sein kann, ist eine  
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