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101. Flyer TT Workshop Dec 12
Datum: 24.09.2012
Prozentuale Relevanz: 7 %

Flyer TT Workshop Dec 12 Access Registration form Name ......................................................... Physics and Metrology at Low Temperature Meeting Site Title / function
102. 03 Fiebach Numerical prediciton of pipe flows with uncertain parameters 2015-02-17
Datum: 12.03.2015
Prozentuale Relevanz: 7 %

03 Fiebach Numerical prediciton of pipe flows with uncertain parameters 2015-02-17 Numerical prediction of pipe flows with uncertain parameters André Fiebach, Sonja Schmelter, Regine Model, and
103. ars stu 2003
Datum: 30.09.2009
Prozentuale Relevanz: 6 %

ars stu 2003 Advances in Radio Science (2003) 1: 1–8 c Copernicus GmbH 2003 Advances in Radio Science Uncertainty of VNA S-parameter measurement due to non-ideal TMSO or LMSO calibration
104. Tag der offenen Tür 2007 (Thema: Der Physik-Cocktail)
Datum: 05.10.2023
Prozentuale Relevanz: 6 %

Mixen Sie sich Ihren eigenen Physik-Cocktail in der PTB! Nehmen Sie vielleicht etwas Zeit und ein paar Nanometer, mischen etwas Kraft hinzu und schmecken mit Radon ab! Über 20
105. MATHMET2016 Program
Datum: 23.11.2016
Prozentuale Relevanz: 5 %

MATHMET2016 Program MATHMET 2016 - International Workshop Berlin, 07 – 09 November 2016 Program Monday, 07/11/2016 PTB, Berlin, HvH-Building, Lecture Hall PTB, Berlin, Siemens Building, Room
106. Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer
Datum: 02.05.2018
Prozentuale Relevanz: 4 %

Soltwisch SPIE 9422 38 AL15 Ellipsometer Polarization resolved measurements with the new EUV Ellipsometer of PTB Victor Soltwischa, Andreas Fischera, Christian Laubisa, Christian Stadelhoffa, Frank
107. 230ptbsem ptb-sommer2
Datum: 07.05.2009
Prozentuale Relevanz: 4 %

230ptbsem ptb-sommer2 Measurement uncertainty in interlaboratory comparisons of seawater conductivity samples Klaus-Dieter Sommer Steffen Seitz Petra Spitzer Division for Chemical Physics and
108. K Ruhm
Datum: 16.03.2016
Prozentuale Relevanz: 4 %

K Ruhm etrology e a s u r e m e n t S c i e n c e Dynamic, or Nondynamic – This is the Question. Karl H. Ruhm Swiss Federal Institute of Technology (ETH) Institute of Machine Tools and Manufacturing
109. Externe Vorträge
Datum: 27.02.2024
Prozentuale Relevanz: 3 %

2023 Eckert, M.; Stosch, R.; Wundrack, S.: Characterization of two-dimensional MoS2 via metrological Raman Spectroscopy [Poster]. Nanoscale 2023, Helsinki, Finland
110. 02 EMC Trustworthy Metrological Platform
Datum: 06.06.2019
Prozentuale Relevanz: 3 %

02 EMC Trustworthy Metrological Platform Metrology Cloud WP1 Metrology Cloud Consortium Meeting Year 1 PTB Berlin WP1-Lead: Neumann, Prof. Dr. Nordholz Dev-Team: Dohlus, Kammeyer, Nischwitz,

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