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Datum
Titel

Datum: 02.12.2021
Prozentuale Relevanz: 2 %

3 Quantencomputer Quantencomputer Piet O. Schmidt & Christian Ospelkaus PTB Braunschweig und Leibniz Universität Hannover Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen 2021, 01.12.2021 01.12.2021 –

212. 3 Schorn

Datum: 11.12.2017
Prozentuale Relevanz: 1 %

3 Schorn 09.12.2017 Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen 2017 Schutzvermerk ISO 16016 beachten Seite - 1 - Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig , 23. November 2017 Aktuelle

213. 3 Schwartz

Datum: 29.11.2016
Prozentuale Relevanz: 3 %

3 Schwartz Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen 24. November 2016 Braunschweig Aktuelles aus der PTB Dr. Roman Schwartz Vizepräsident der PTB Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt, das

214. 3 Weberpals

Datum: 29.11.2013
Prozentuale Relevanz: 3 %

3 Weberpals Arbeitsgemeinschaft MessMess und Eichwesen PTB-Vollversammlung 2013 Bericht B i ht des d Vorsitzenden V it d der AGME: „Aktuelles aus dem Bereich

215. 4-3 Golemanov QMSys GUM 47 de

Datum: 19.04.2011
Prozentuale Relevanz: 2 %

4-3 Golemanov QMSys GUM 47 de GUM Enterprise / Professional / Standard QMSys GUM Enterprise, Professional, Standard Software zur Analyse der Messunsicherheit 1. Einführung

216. 4-4 Conrad Solara und VDA Band 5

Datum: 30.03.2011
Prozentuale Relevanz: 2 %

4-4 Conrad Solara und VDA Band 5 Prüfprozesseignung und Messunsicherheit mit Solara® nach VDA Band 5 ( 2. Auflage) Referent Stephan Conrad TEQ Training & Consulting GmbH Experts in Statistics |

217. 4.21 Form- und Wellenfrontmetrologie

Datum: 03.06.2020
Prozentuale Relevanz: 7 %

In der Arbeitsgruppe wird Messtechnik für optische Systeme für Messungen mit möglichst kleiner Messunsicherheit entwickelt und angewendet. Neben der Formmessung mit Größen wie der Sphärizität,

218. 4.23 Optische Nanometrologie

Datum: 20.01.2021
Prozentuale Relevanz: 4 %

Themen Entwicklung und Verbesserung optisch-mikroskopischer Verfahren zur dimensionalen Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen: - Neuartige überauflösende Dunkelfeldverfahren:

219. 4.24 Asphärenmetrologie

Datum: 13.01.2023
Prozentuale Relevanz: 57 %

Entwicklung eines rückgeführten metrologischen Systems für die Formmessung von Asphären mit möglichst kleiner Messunsicherheit auf Basis des Tilted-Wave Interferometers Weiterentwicklung des

220. 4.24 Asphärenmetrologie

Datum: 13.01.2023
Prozentuale Relevanz: 82 %

4.24 Asphärenmetrologie Dr.-Ing. Ines Fortmeier Physikalisch-Technische Bundesanstalt 4.24 Asphärenmetrologie Bundesallee 100 38116 Braunschweig ines.fortmeier@ptb.de (0531) 592-4240

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