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181. 272. PTB-Seminar: "Optische Bildverarbeitung"-Standardisierung und Performanzanalyse  
Datum: 11.02.2013
Prozentuale Relevanz: 9 %
Schwerpunktthema Standardisierung und Performanzanalyse Anmeldung Anmeldungen erbitten wir vorzugsweise per Internet. Ein entsprechendes Online-Anmeldeformular steht für Sie bereit. Nach  
182. 273. PTB Seminar  
Datum: 25.11.2013
Prozentuale Relevanz: 12 %
Am 24. und 25. Oktober 2013 fand das 273. PTB-Seminar „VUV and EUV Metrology“ im Hörsaal des Helmholtz-Zentrums Berlin am Elektronenspeicherring BESSY II in Berlin-Adlershof statt. An zwei Tagen  
183. 276. PTB-Seminar.Teil 1.MU-Drehmoment GUM  
Datum: 21.02.2014
Prozentuale Relevanz: 1 %
276. PTB-Seminar.Teil 1.MU-Drehmoment GUM Kurze Einführung in die Berechnung der Messunsicherheit nach GUM Stephan Mieke Physikalisch-Technische Bundesanstalt Institut Berlin, 8.40 1  
184. 276. PTB-Seminar.Teil 2.MU-Drehmoment  
Datum: 17.02.2014
Prozentuale Relevanz: 2 %
276. PTB-Seminar.Teil 2.MU-Drehmoment Übersicht über Messunsicherheitsberechnungen von der Darstellung der Einheit des Drehmomentes über die Weitergabe bis hin zur Anwendung und Beispiel  
185. 294. PTB Seminar.Teil 2 Roeske.Messunsicherheit Drehmoment 2015  
Datum: 27.11.2015
Prozentuale Relevanz: 1 %
294. PTB Seminar.Teil 2 Roeske.Messunsicherheit Drehmoment 2015 Übersicht über Messunsicherheitsberechnungen von der Darstellung der Einheit des Drehmomentes über die Weitergabe bis hin zur Anwendung  
186. 294. PTB Seminar.Teil 3 Pesch.Der Weg zur Modellgleichung  
Datum: 27.11.2015
Prozentuale Relevanz: 2 %
294. PTB Seminar.Teil 3 Pesch.Der Weg zur Modellgleichung Dieses Handout fasst die relevanten Inhalte des Seminarbeitrags kommentiert zusammen. Der Vortrag basiert auf der Einführung zur  
187. 298. PTB-Seminar "Datenübertragung für Brennwert-Rekonstruktionssysteme"  
Datum: 09.05.2016
Prozentuale Relevanz: 15 %
Wir bitten um formlose Anmeldung bis zum 24. Juni 2016 unter der E-Mail: Sekretariat 3.3 Daniela Klaus daniela.klaus@ptb.de  
188. 2 2 May-Metrology for Stuff  
Datum: 11.04.2012
Prozentuale Relevanz: 1 %
Impact of metrology for “stuff” – chemistry, biology and materials Helmholtz-Symposium, Tuesday, March 27, 2012 2 2 May-Metrology for Stuff Helmholtz-Symposium on the occasion of the completion of  
189. 2 techn-anf  
Datum: 24.02.2006
Prozentuale Relevanz: 2 %
Vortrag für DIKO am 22.1.99 2 techn-anf Die Europäische Richtlinie für Messgeräte (MID) Technische Anforderungen an Messgeräte Christian Mengersen Physikalisch-Technische Bundesanstalt  
190. 2 Thiel  
Datum: 29.11.2016
Prozentuale Relevanz: 2 %
2 Thiel Digitalisierung im gesetzlichen Messwesen Florian Thiel FB 8.5 Metrologische Informationstechnik 24.11.2016, Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen, PTB Braunschweig Struktur des  
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