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2987 Treffer:
  • 11. 00 EMC Poster Executive Summary  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 12 %
    00 EMC Poster Executive Summary Metrology Cloud Dr. Florian Thiel Physikalisch-Technische Bundesanstalt National Metrology Institute Abbestraße 2 – 12 10587 Berlin, Germany www.ptb.de Florian  
  • 12. 00 EMC Poster timeline  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 5 %
    00 EMC Poster timeline The Metrology Cloud: Roadmap Martin Nischwitz, Jan Wetzlich, Maxmimlian Dohlus, Artem Yurchenko The Art of Development Extern Demonstrators Concepts Reference  
  • 13. 01-fisicaro-metrologyinchemistry  
    Datum: 07.05.2009
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    01-fisicaro-metrologyinchemistry Laboratoire national de métrologie et d’essais 9-10 April, 2008 Euramet 924 Meeting 1 An introduction to Metrology in Chemistry Paola Fisicaro Inorganic  
  • 14. 01 EMC Poster Authentification  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    01 EMC Poster Authentification The Metrology Cloud: Easy Authentification Artem Yurchenko, Max Dohlus IDEA - Identification Device Easy Access/Authentification for IDEA ❖ ❖ ❖ ❖ Secure storage of  
  • 15. 01 EMC Poster Digital Representation  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    01 EMC Poster Digital Representation The Metrology Cloud: The Digital Representation Maximilian Dohlus, Artem Yurchenko Why Metrology Cloud? ❖ Increase process efficiency by digitization ❖ Remove  
  • 16. 01 EMC Poster MC on a Table  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    01 EMC Poster MC on a Table The Metrology Cloud: MCoaS/T Jan Wetzlich, Martin Nischwitz, Artem Yurchenkow, Maximilian Dohlus MCoaT – Metrology Cloud on a  
  • 17. 01 EMC Poster Networking  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 40 %
    01 EMC Poster Networking The Metrology Network – Now and Then Measuring Infrastructure NOW Current State ❖ You have to know where an information is stored, who to ask about it and how to get it ❖  
  • 18. 01 EMC Poster Node Architecture  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 5 %
    01 EMC Poster Node Architecture The Metrology Cloud: Node Architecture Artem Yurchenko, Martin Nischwitz, Maximilian Dohlus, Jan Wetzlich Requirements ❖ ❖ ❖ ❖ Maximize data control: all data will  
  • 19. 01 EMC Poster Prolog  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    01 EMC Poster Prolog The Metrology Cloud: Prolog Jan Wetzlich, Martin Nischwitz, Artem Yurchenkow, Maximilian Dohlus Legal metrology (LM) involves numerous stakeholders which frequently exchange  
  • 20. 01 EMC Poster Trust  
    Datum: 06.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    01 EMC Poster Trust The Metrology Cloud: Trust Jan Wetzlich, Martin Nischwitz Data Security and Public Key Infrastructure ❖ Smart contracts Usage Public Key Infrastructure ❖ Distributed ledgers  
###SPINNER###
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