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1390 Treffer:
  • 61. Vorstellung des Themenbereichs Nanometrologie  
    Datum: 11.03.2022
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    Im Themenbereich Nanometrologie (TB Nano) arbeiten Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter der PTB aus 13 Fachbereichen abteilungsübergreifend zusammen, um die industriellen und metrologischen  
  • 62. Vorlesung Praezisionsmesstechnik 2012  
    Datum: 01.03.2016
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    Vorlesung Praezisionsmesstechnik 2012 Skript (vorläufig; überarbeitete Version 23.05.2012) zur Vorlesung Elektrische Präzisionsmesstechnik (nur zur Verwendung in Zusammenhang mit der Vorlesung;  
  • 63. Von Hamos  
    Datum: 15.02.2018
    Prozentuale Relevanz: 11 %
    Von Hamos Calibratable von Hamos X-ray Spectrometer Physikalisch-Technische Bundesanstalt National Metrology Institute Overview • • • • • Calibratable Broad energy range: 2.3 keV – 20  
  • 64. Vom metrologischen „Olymp“ bis zum Crashtest  
    Datum: 11.09.2002
    Prozentuale Relevanz: 6 %
    Internationale Konferenz über Harmonisierung von Messverfahren im Zeitalter der Globalisierung Neue Methoden und Geräte zur Messung von Kraft, Masse, Drehmoment und Härte sowie zur Überwachung von  
  • 65. Vollversammlung für das Mess- und Eichwesen  
    Datum: 09.01.2024
    Prozentuale Relevanz: 3 %
    Vollversammlung 2015 Termin: Mi, 25. November 2015, 9:00 Uhr - 17:00 Uhr Ort: Physikalisch-Technische Bundesanstalt Bundesallee 100 38116 Braunschweig Kohlrausch-Bau, Hörsaal Vorträge: Die  
  • 66. V L11  
    Datum: 11.01.2019
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    V L11 Relativistic Atomic Theory Lecture 11 Winter Term 2018/19 Andrey Surzhykov Robert Müller Thomas Fermi Atoms If a many electron atom has many (more than a few) electrons, it might seem  
  • 67. Virtuelles Transmissionselektronenmikroskop für die Nanometrologie  
    Datum: 01.12.2014
    Prozentuale Relevanz: 4 %
    In Kooperation mit der Arbeitsgruppe von Prof. Kohl an der Universität Münster wurden TEM-Bilder dünner Querschnitte von Nano-Referenzstrukturen, eingebettet in eine Schutzschicht aus z.B. Platin,  
  • 68. Virtuelles Modell für ein metrologisch rückgeführtes UHV-STM  
    Datum: 03.05.2016
    Prozentuale Relevanz: 9 %
    Für die Aufrüstung eines UHV-Rastertunnelmikroskops (UHV-STM) mit einem komplexen interferometrischen Messsystem wurde ein virtuellen 3D-Modell des bestehenden Aufbaus erstellt. Für das Upgrade zum  
  • 69. Virtual Measurement Process VMP  
    Datum: 17.05.2023
    Prozentuale Relevanz: 8 %
    Projektzeitraum Beginn: November 2019 Ende:    Oktober 2022 Projektbeschreibung Mit dem steigenden Bedürfnis nach Durchführung von „Virtuellen Messungen“ zur  
  • 70. VirtMet Whitepaper public  
    Datum: 18.06.2019
    Prozentuale Relevanz: 1 %
    VirtMet Whitepaper public PTB-Kompetenzzentrum „Metrologie für virtuelle Messgeräte“ (VirtMet) Im Zuge der Digitalisierung nimmt die Bedeutung von Simulationen und in silico Experimenten rasant zu.  
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