Doppel D-Spiegel-Halter

Produktionstechnik
Fabian Dawel
DE 10 2021 100 994.4 ; 2021-01-19
Produktionstechnik
Dr. Michael Schulz
DE 10 2019 102 063.8 ; 2019-01-28
DE 10 2019 102 063 A1 ; 2020-07-30
Optik
Produktionstechnik
Florian Pollinger
Günter Prellinger
Karl Meiners-Hagen
DE 10 2018 105 011.9 ; 2018-03-05
DE 10 2018 105 011 A1 ; 2019-09-05
WO 2019/170540 A1 ; 2019-09-12
PCT/EP 19709005.3 ; 2020-09-28
Produktionstechnik
Katharina Lehrmann
DE 10 2020 124 804.0 ; 2020-09-23
Produktionstechnik
Dr.- Ing. Norbert Löwa
DE 10 2020 116 790.3 ; 2020-06-25
Produktionstechnik
Sensorik
Günther, Rothleitner
EP 18181964.0 ; 2018-07-05
Produktionstechnik
Fertigungstechnologie
Meeß, Rudolf
Hinzmann, Günter
Lück, Alexander
Müller, Michael
DE 10 2015 110 712.0 ; 2015-07-02
DE 10 2015 110 712 A1 ; 2017-01-05
WO 2017/001511 A1 ; 2017-01-05
Fertigungstechnologie
Optik
Schulz, Michael
Blobel, Gernot
Wiegmann, Axel
DE 10 2013 222 927.5 ; 2013-11-11
DE 10 2013 222 927 B4 ; 2016-02-04
DE 10 2013 222 927 A1 ; 2015-05-13
Produktionstechnik
Sebastian Bütefisch
Thomas Weimann
Thomas Ahbe
Michelle Weinert
Peter Hinze
DE 10 2019 117 602 ; 29-6-2019
Produktionstechnik
Alexander Kirste
DE 10 2018 119 043.3; 06-08-2018
DE 10 2018 119 043 A1 ; 2020-02-06
DE 10 2018 119 043 B4 ; 2020-06-04
Fertigungstechnologie
Optik
Buchholz, Bernhard
Ebert, Volker
DE 10 2014 200 629.5 ; 2014-01-15
DE 10 2014 200 629 A1 ; 2015-07-16
DE 10 2014 200 629 B4 ; 2020-03-12
Produktionstechnik
Fertigungstechnologie
Halbleiterherstellung
Lithographie
Jousten, Karl
Setina, Janez
DE 10 2014 200 907.3 ; 2014-01-20
DE 10 2014 200 907 A1 ; 2015-07-23
DE 10 2014 200 907 B4 ; 2020-03-05
Chemische Anlagen
Produktionstechnik
Fertigungstechnologie
Rosahl, Johannes
Lindner, Gerd
DE 10 2017 123 379.2 ; 2017-10-09
DE 10 2017 123 379 B3 ; 2018.10.18
PCT/EP2018/071421 ; 2018-08-07
Produktionstechnik
Wolfgang Peinelt
Karsten Kuhlmann
Thomas Baron
DE 10 2018 108 475 B3 ; 10-10-2019
Geom. Messtechnik
Nanotechnologie
Mikro- und Nanotechnik
Dai, Gaoliang
Thiesler, Jan
DE 10 2018 105 756.3 ; 2018-03-13
DE 10 2018 105 756 B3 ; 2019-03-28
Produktionstechnik
Geom. Messtechnik
Keller, Frank
Stein, Martin
Kniel, Karin
DE 10 2017 119 488.6 ; 2017-08-25
DE 10 2017 119 488 B9 ; 2019-03-07
Optische Systeme
Optik
Reinsch, Heiko
DE 10 2018 103 886.0 ; 2018-02-21
DE 10 2018 103 886 A1 ; 2019-08-22
Produktionstechnik
Optik
Materialanalyse
Bütefisch, Sebastian
Weimann, Thomas
DE 10 2017 113 290.2 ; 2017-06-16
DE 10 2017 113 290 B3 ; 2018-12-13
Geom. Messtechnik
Optik
Wiegmann, Axel
Quabis, Susanne
Schulz, Michael
Stavridis, Manuel
Elster, Clemens
DE 10 2014 203 117.6 ; 2014-02-20
DE 10 2014 203117 A1 ; 2015-08-20
DE 10 2014 203117 B4 ; 2015-10-29
Produktionstechnik
Optische Systeme
Sensorik
Optik
Optische Systeme
Eichler, Thomas
Straka , Martin
Juling, Markus
DE 10 2014 011 480.5 ; 2014-07-31
DE 10 2014 011 480 B3 ; 2015-11-12
Produktionstechnik
Mikro- und Nanotechnik
Bütefisch, Sebastian
Weimann, Thomas
Danzebrink, Hans-Ulrich
Busch, Ingo
EP 14 003 605.4 ; 2014-10-22
Produktionstechnik
Le, Tuan Anh
Härtig, Frank
Neuschaefer-Rube, Ulrich
Kniel, Karin
DE 10 2015 005 231.4 ; 2015-04-24
DE 10 2015 005 231 A1 ; 2016-10-27
DE 10 2015 005 231 B4 ; 2018-06-21
Produktionstechnik
Sensorik
Optik
Optische Systeme
Juling, Markus
Steinbock, Jonas
Lederer, Thomas
DE 10 2015 117 131.7 ; 2015-10-07
DE 10 2015 117 131 A1 ; 2017-04-13
Optische Systeme
Geom. Messtechnik
Mikro- und Nanotechnik
Schumann, Matthias
Geckeler, Ralf Dieter
EP 3 438 604 A1 ; 2019-02-06
Optik
Produktionstechnik
Sensorik
Ehret, Gerd
Schulz, Michael
DE 10 2016 107 443.8 ; 2016-04-21
DE 10 2016 107 443.8 ; 2017-10-26
Produktionstechnik
Optische Systeme
Geom. Messtechnik
Halbleiterherstellung
Sensorik
Soltwisch, Victor
Pflüger, Mika
DE 10 2017 100 273.1 ; 2017-07-22
Produktionstechnik
Sensorik
Peetz, Bastian
Baack, Sebastian
DE 10 2016 112 196.7 ; 2016-07-04
DE 10 2016 112 196 A1 ; 2018-01-04
DE 10 2016 112 196 B4 ; 2018-04-05
G05D G05D
Geom. Messtechnik
Produktionstechnik
Härtig, Frank
Jusko, Otto
Richter, Oliver
Wäldele, Franz
DE 10 2005 042 278 A1 ; 2006-11-02
DE 10 2005 042 278 B4 ; 2011-01-13
Geom. Messtechnik
Sensorik
Optik
Laser
Lohse, Ingo
Meiners-Hagen, Karl
DE 10 2012 003 653.1 ; 2012-02-10
PCT EP/2013/000365 ; 2013-02-07
DE 10 2012 003 653 A1 ; 2013-08-14
DE 10 2012 003 653 B4 ; 2016-07-28
A01G A01G
Produktionstechnik
Geom. Messtechnik
Härtig, Frank
Kniel, Karin
Krah, Thomas
Wedmann, Achim
DE 10 2014 201 508.1 ; 2014-01-28
DE 10 2014 201 508 A1 ; 2015-07-30
Geom. Messtechnik
Mikro- und Nanotechnik
Nanotechnologie
Sensorik
Nanotechnologie
Bütefisch, Sebastian
Geom. Messtechnik
Mikro- und Nanotechnik
Nanotechnologie
Materialanalyse
Harcken, Hans
Lüdke, Joachim
Geom. Messtechnik
Mikro- und Nanotechnik
Nanotechnologie
Härtig, Frank
Kniel, Karin
Krah, Thomas
Wedmann, Achim
Ludwig, Peter
DE 10 2013 220 219.9 ; 2013-10-07
DE 10 2013 220 219 A1 ; 2015-04-09
Geom. Messtechnik
Nanotechnologie
Optik
Molnar, Gabor
Strube, Sebastian
Danzebrink, Hans-Ulrich
DE 10 2010 006 749.0 ; 2010-02-02
DE 10 2010 006 749 A1 ; 2011-08-04
WO 2011/095145 A1 ; 2011-08-11
DE 10 2010 006 749 B4 ; 2011-12-15
Produktionstechnik
Optik
Laser
Meiners-Hagen, Karl
Pollinger, Florian
Abou-Zeid, Ahmed
Wendt, Klaus
Härtig, Frank
DE 10 2010 032 407.8 ; 2010-07-27
DE 10 2010 032 407 B3 ; 2011-12-15
Geom. Messtechnik
Fertigungstechnologie
Sensorik
Versorgungsmessg.
Wendt, Gudrun
Mickan, Bodo
Mathies, Nicolaus
Ehrler, Alois
DE 10 2010 020 699.7; 2010-05-17
DE 10 2010 020 699 A1 ; 2011-11-17
DE 10 2010 020 699 B4 ; 2015-04-02
G05D G05D
Geom. Messtechnik
Mikro- und Nanotechnik
Nanotechnologie
Danzebrink, Hans-Ulrich
Bütefisch, Sebastian
DE 10 2008 024 808.8 ; 2008-05-23
DE 10 2008 024 808 B3 ; 2009-11-26
Fertigungstechnologie
Optik
Laser
Meiners-Hagen, Karl
Pollinger, Florian
EP 12000514.5 ; 2012-01-26
EP 2 620 742 A1 ; 2013-07-31
EP 2 620 742 B1 ; 2014-03-12
Produktionstechnik
Optik
Thomsen-Schmidt, Peter
DE 10 2011 018 910.6 ; 2011-04-21
DE 10 2011 018 910 A1 ; 2012-10-25
DE 10 2011 018 910 B4 ; 2015-02-26
Geom. Messtechnik
Optik
Geckeler, Ralf
DE 10 2009 015 507.4 ; 2009-04-02
DE 10 2009 015 507 A1 ; 2010-10-21
DE 10 2009 015 507 B4 ; 2010-12-23