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Production sequence of Si-spheres and interferometrical determination of the sphere volume

Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring Limits and Novel Techniques

16.12.2019

Das Buch “Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring Limits and Novel Techniques”, herausgegeben von René Schödel, PTB, entstand unter Mitwirkung verschiedener Experten, die in den letzten Jahren zu signifikanten Fortschritten der interferometrischen Längenmessverfahren beigetragen haben. Die folgende Tabelle bietet eine Übersicht über Kapitel, Autoren und deren Zugehörigkeit.

Chapter 1Practical realization of the length by interferometry -
General principles and limitations
René Schödel and Florian Pollinger, PTB
Chapter 2Large field imaging interferometry for the measurement
of the length of bar shaped material measures
René Schödel, PTB
Chapter 3Fizeau Interferometry for the sub-nm accurate
realization of sphere radii
Arnold Nicolaus and Guido Bartl, PTB
Chapter 4Interferometry for distance metrology in spaceThilo Schuldt, DLR
Chapter 5Interferometry in air with refractive index compensationFlorian Pollinger, PTB
Chapter 6Frequency-comb-based spectral interferometry and
homodyne many-wavelength interferometry for
distance measurements
Nandini Bhattacharya, TU-Delft and
Steven van den Berg, VSL, Netherlands
Chapter 7Absolute distance measurement based on
dispersive/spectral domain interferometry and dual
comb interferometry
Seung-Woo Kim and Yoon-Soo Jang,
KAIST, South Korea
Chapter 8Frequency- scanning interferometry based distance
metrology
Armin Reichhold, Oxford-Univ., United Kingdom
Chapter 9pm-level distance interferometryBirk Andreas and Christoph Weichert, PTB


Interferometrische Verfahren zur Längenmessung basieren auf der Betrachtung von Licht als elektromagnetische Welle, die sich in Luft mit nahezu Lichtgeschwindigkeit ausbreitet. Das Buch beschreibt, ausgehend von der Definition des Meters im internationalen Einheitensystem, die Grundprinzipien der für verschiedene Messaufgaben entwickelten Verfahren, die heutigen Genauigkeitsgrenzen und innovative Ansätze für neue Verfahren.

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