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Production sequence of Si-spheres and interferometrical determination of the sphere volume

Elektronenmikroskopie

Arbeitsgruppe 5.24

Ausstattung zur Probenpräparation

Leica EM ACE600 Hochvakuum-Beschichtungssystem
Leica EM ACE600 Hochvakuum-Beschichtungssystem

Leica EM ACE600 Hochvakuum-Beschichtungssystem

  • zwei Sputterköpfe (zwei unterschiedliche Materialien können nacheinander im Vakuum aufgebracht werden),
  • motorisierter Probentisch mit Planetengtriebe
  • Glimmentladungssystem
  • Schwingquartz-Dickenmesssystem
  • Probegröße: bis 4 Zoll-Wafer

Balzers Kleinbeschichtungsanlage MED 010

  • für Kohlefadenbedampfung eingerichtet
Ionenätzgerät Hitachi IM4000Plus
Ionenätzgerät Hitachi IM4000Plus

Ionenätzgerät Hitachi IM4000Plus mit aktiver Probenkühlung

  • zur Erzeugung mechanisch ungestörter Querschnitte und zur Politur mechanisch vorpolierter Probenoberflächen zwecks anschließender Beobachtung und Analyse im REM
  • Probenbehandlung erfolgt durch einen Argon-Ionenstrahl, der stufenlos zwischen 0 und 6kV beschleunigt werden kann
  • Ätzrate bei Querschnittpräparation: ca. 500µm/h (Si)
  • Probenkühlung mit LN2 (wenn erforderlich) bis -100°C

Metallographische Grundausstattung

  • Trennschleifmaschine Stuers Secotom-10
  • Schleif- und Poliermaschinen
  • Ausrüstung für manuelles Schleifen